天游线路检测中心 FIB-SEM JIB-PS500i介绍~从TEM样品制备到三维测量~
发布日期：2025/02/08
TEM 可以进行高分辨率观察，对于局部微观结构分析非常有效，但 FIB-SEM 适合于宽视场的三维分析。 JIB-PS500i是一款高性能FIB-SEM，可为半导体器件等精细结构样品提供高质量的TEM样品制备和纳米级三维分析。它还配备了非暴露传输机构，使其能够有效地处理和观察容易与大气发生反应的样品。在本次讲座中，我们将介绍JIB-PS500i的各种特性及其应用。本次网络研讨会的内容与 2024 年第 17 届 SEM 用户大会上有关 JIB-PS500i 的演示内容相同。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
JIB-PS500i的特点
JIB-PS500i TEM 样品制备解决方案
使用JIB-PS500i的3D分析系统
想要参与的客户
对制备 SEM 和 TEM 样品感兴趣的人
对于那些对 FIB 感兴趣的人
对显微样品 3D 分析感兴趣的人
扬声器
中岛佑平
日本电子有限公司EP事业部EP申请部
日期/详细信息
2025 年 3 月 18 日（星期二）16:00 - 17:00
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
讲座录音
稍后我会发布讲座的录音。发帖时我们公司电子显微镜邮件杂志和社交网络服务。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。
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