天游线路检测中心 使用 JEOL 提供的 FIB 的 TEM 样品制备溶液
发布时间：2024/01/25
FIB-SEM 广泛用作 TEM 的样品制备装置。
近年来，随着TEM分辨率的提高，样品要求更薄、质量更高。
最新的 FIB-SEM 系统 JIB-PS500i 就是为了满足这些需求而开发的。
我们还审查了样本处理。
通过加强与 TEM 的联动，我们实现了 FIB 和 TEM 之间无样品损失的样品转移，并且实现了 TEM 样品的轻松处理。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
最新的 FIB-SEM 系统
TEM 样品制备溶液
想要参与的客户
FIB 用户或考虑使用 FIB 的用户
那些用 FIB 制备样品的人
那些想要使用 FIB-SEM 改进 TEM 样品制备的人
扬声器
河合美澄
EP事业部EP申请部
日期/详细信息
2024年3月8日（周五）16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
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演示材料
不会分发演示材料。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。
该视频现已发布，请在下面申请。
联系我们
日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
- 请将[at]更改为@。
视频
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