天游线路检测中心 SEM 阵列断层扫描的基础和应用

发布日期：2023/10/06

近年来，使用电子显微镜的三维分析方法（vEM：体积EM）已成为一项备受关注的技术。在 vEM 中，SEM 阵列断层扫描的特点是引入成本低，并且即使在观察后样品仍然存在。虽然SEM阵列​​断层扫描是一种非常简单的方法，但我们听说很多人在设备控制、样品制备方法、数据重建等方面存在困难。
在本次研讨会上，东京大学的 Saito 教授将介绍 JEOL 提供的阵列断层扫描支持功能和软件、样品制备技巧和分析示例。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

• SEM阵列断层扫描所需的东西和技术

• SEM阵列断层扫描样品制备方法

• SEM 阵列断层扫描可以做什么

想要参与的客户

• 对SEM阵列断层扫描感兴趣或即将开始的人

• 那些在准备 SEM 阵列断层扫描样品（例如连续切片）时遇到困难的人

• 那些尝试使用电子显微镜观察组织的人

活动日期/详细信息

• 2023年11月10日（星期五）15:00 - 17:00

• 讲座结束后将有时间进行问答。

程序

摘要	标题/详情	扬声器
讲座 1 15:00～15:25	SEM阵列断层扫描样品制备方法 SEM阵列断层扫描是一种优秀的分析方法，引入成本低，基本上只需要一台SEM，但另一方面，许多客户觉得很难，因为样品制备方法复杂。在本次研讨会中，我们将介绍在进行 SEM 阵列断层扫描时准备连续切片的有用工具、样品固定方法以及技巧和诀窍。	春田智博 日本电子有限公司 申请管理办公室
讲座 2 15:25～15:45	串行切片自动观察软件“Array Tomography Supporter”介绍 “Array Tomography Supporter”是专门为自动观察阵列断层扫描中的连续切片而开发的软件。 用户友好的GUI让您轻松指定观察位置并自动观察指定区域。	铃木克之 日本电子有限公司 EP业务部EP技术开发部
问答 15:45～16:00	将针对前两场讲座进行问答。 有关后两场讲座的问答将在稍后举行。
讲座 3 16:00～16:20	System Infrontier提供的Array Tomography相关软件介绍 隆重推出 System Infrontier (SIF) 软件“Stack n Viz”和“Colorist”。 “Stack n Viz”由“Stacker”和“Visualiser”组成。 “Stacker”进行对齐、感兴趣区域选择等，并创建重建数据。 “Visualiser”是重建数据的专用查看器。 “Colorist”可以对要观察的结构进行分割。在本次研讨会中，我们将解释如何使用和介绍 SIF 制造的这些阵列断层扫描相关软件。	矶部直树 System Infrontia 有限公司 技术组
专题讲座 16:20～16:55	使用广域三维光电子相关显微镜捕获细胞内降解过程 细胞内降解在细胞内的不同位置同时发生且多次发生。在 JST Mizushima ERATO 项目中，我们建立了一种使用阵列断层扫描的广域三维光电子相关显微镜方法来阐明这一动态过程。该方法的优点是可以在可以覆盖整个培养细胞的体积内进行光电关联。在本次讲座中，我们将介绍过去的应用示例，并讨论该方法的问题和未来的前景。	齐藤千惠子 东京大学研究生院 医学院研究生院

相关产品

• JSM-IT800肖特基场发射扫描电子显微镜

• 阵列断层扫描支持者

演示材料

讲座结束后填写调查问卷即可下载。

参与费

免费（请尽早申请。）

如何申请

网络研讨会已经结束。
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SEM阵列断层扫描样品制备方法

串行切片自动观察软件“Array Tomography Supporter”介绍