天游线路检测中心 使用 SXES 进行定量分析的方法 ~ 与电子探针显微分析仪的差异

发布日期：2023/02/13

软X线発光分光器 (SXES)を用いて主に计测する特性X线は、価电子帯-内壳の迁移に基づく発光supekutoruであることが多いので、材料の化学结合状态によってスペクトル形状が大きく変化し、既存のZAF定量补正法などを用いた定义精度の向上は困难となります。このような特徴を踏まえて、材料の定义分析を実施した场合の留意点や、电子プローブマイクロナライザーとの相违点、SXESでの実测データの绍介を行います。

本セミナーは、WEB上で開催されます。 As long as you can connect to the web, you can participate not only from your computer but also from your smartphone or tablet
皆さまのご参加をお待ちしております。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

• SXESの概要

• To what extent is quantitative analysis of materials possible using SXES?

• EPMAとSXESの概念分析の特徴、相违点

Customers who would like to participate

• SXESに兴味があるのでSXESを用いた材料分析の特徴を知りたい。

• SXESに限らず、SEM-EDS、EPMAでの定义分析の违いを知りたい。

• SXESを使っているが、材料分析に更に活用したい。

講演者

髙倉 優

SA事業ユニット
SA Technology Development Group 2

開催日/詳細

• March 24, 2023 (Fri) 16:00-17:00

• 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range) 軟X線分光器

JXA-iSP100 Electron Probe Micro Analyzer (EPMA)

JXA-iHP200F 场发射电子探针微量分析仪 (FE-EPMA)

演示材料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

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無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）

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SXESを用いた定量分析への取り组み ~ 电子プローブマイクロナライザーとの相违点