天游线路检测中心 隆重推出配备新一代样品制备解决方案的新型 FIB-SEM JIB-PS500i
发布日期：2023/02/07
FIB-SEM 作为 TEM 的样品制备装置是不可或缺且广泛应用的。近年来，TEM的分辨率不断进步，要求TEM样品更薄、FIB加工过程中损伤更小。
我们最近发布了一款新的 FIB-SEM 系统，其理念是“迈向样品制备、观察和分析的前沿”。 FIB 和 SEM 基本性能的改进使得制备高质量样品成为可能，且不会损坏 TEM 所需的样品。此外，它还配备了创新的样品制备解决方案，例如与我们的 TEM 联动，让您能够采用可靠、高效的工作流程。
在本次研讨会中，我们将以使用半导体样品的 TEM 样品制备为例介绍 JIB-PS500i 提供的解决方案。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
最新的 FIB-SEM 系统
TEM 样品制备溶液
想要参与的客户
FIB 用户或考虑使用 FIB 的用户
那些用 FIB 制备样品的人
那些想要使用 FIB-SEM 改进 TEM 样品制备的人
扬声器
角井美澄
EP业务部EP申请部FIB 集团
活动日期/详细信息
2023年3月2日（星期四）16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
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演示材料
不会分发演示材料。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
请在下面申请。
请参阅 PDF，了解有关如何注册和参与的详细信息。
网络研讨会将在 Zoom 上举行。 Zoom有测试会议功能，因此我们建议首次使用的用户进行测试。点击此处了解详情。
请注意，我们可能会拒绝参赛者注册。
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