天游线路检测中心 对于那些寻找薄膜和层压薄膜分析方法的人 ~使用 XRF 和 XPS 进行分析的简介 ~
发布日期：2023/01/06
更新：2023/03/27
有许多要求研究样品表面上形成的薄膜和层压膜的元素组成、化学状态和厚度。通常使用 SEM 或 TEM 进行分析，同时观察横截面，但这需要高水平的技能。因此，对于那些希望在筛选过程中轻松进行膜厚评估和条件分析的人，我们想介绍一下无需复杂操作即可进行分析的 XRF 和 XPS。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
薄膜分析方法示例
关于使用 XRF 进行膜厚测量
同时使用 XPS 和 XRF 的用处
想要参与的客户
想要测量膜厚的人
想要高精度进行XRF膜厚测量的人
对使用 XRF 和 XPS 感兴趣的人
扬声器
村谷直树
SA 业务部门
SA技术开发第二组
日期/详细信息
2023 年 2 月 14 日星期二 16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
相关产品
演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
参与费
免费（申请按照先到先得的原则进行。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。
该视频现已发布，请在下面申请。
联系我们
日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
- 请将[at]更改为@。
视频
输入客户信息后，您将被重定向到视频页面。
