天游线路检测中心 JEOL - 牛津仪器 FIB-SEM/采样技术“联合网络研讨会”2021 年（在线）
日期：2021 年 8 月 6 日星期五视频发布期间：2021年8月10日（星期二）至2021年9月10日（星期五）
* 由于展览期结束，展览于9月10日（星期五）结束
共同赞助：JEOL Co, Ltd、Oxford Instruments Co, Ltd
网络研讨会
非暴露环境下锂离子电池TEM样品的制备
2021年8月6日（周五）16:00-16:30
网络研讨会 1
锂离子电池容易与大气成分发生反应，因此需要在不暴露于大气的情况下运输和制备样品。这次，我们将介绍以全固态锂离子电池的硅负极材料为样品，使用聚焦离子束装置（FIB）的非曝光TEM样品制备过程。通过将样品从 Cross Section Polisher™ (CP) 直接转移到 FIB-SEM，可以从光滑的 CP 横截面制备样品，并且通过将 Oxford Instruments 制造的 Omniprobe 连接到 FIB 样品室，可以从目标区域制备高质量的 TEM 样品，而无需暴露在大气中。
讲师河合美澄
日本电子有限公司EP业务部EP申请部FIB 集团
高性能纳米机械臂OmniProbe介绍及应用实例
2021年8月6日（周五）16:30-17:00
网络研讨会 2
我们想介绍牛津仪器的纳米操纵器OmniProbe系列。 OmniProbe 具有出色的线性度和稳定性，可以平稳、准确地拾取 TEM 样品并连接到网格上，并且能够更换 FIB 室内的尖端，从而最大限度地减少仪器停机时间。它还支持 EBIC 和 EBAC 等电气测试。我们还将介绍结合 EDS/EBSD 对芯片上的 TEM 样品进行 EDS 分析（膜厚测量）和 EBSD 分析等应用示例。
讲师五十岚诚
牛津仪器有限公司分析仪器事业部
在线演示简介
这是一项通过互联网向正在考虑安装设备的客户介绍设备并解释其操作的服务。多人可以同时查看。还可以进行语音通话，因此可以现场提问和解答。
好处
无需亲临我们的办公室
无需旅行批准
可由许多设备用户确认
不需要报告/每日报告
演示结束后您可以立即返回工作
从申请到实施的流程
如果您有兴趣，请使用查询表进行申请。
代表将与您联系。届时，我们会询问您的日期和时间以及您可能提出的任何要求。
我们将在指定的日期和时间开始“在线演示”。活动当天，我们将通过电话或电脑音频麦克风与您联系。
*由于展览期结束，申请截至 9 月 10 日星期五
相关链接
JEOL - 牛津仪器SEM/EDS/WDS“联合网络研讨会”2021（在线）日期：2021 年 7 月 21 日星期三 16:00-17:00
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