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天游线路检测中心 JEOL - 牛津仪器 SEM/EDS/WDS“联合网络研讨会”2021 年(在线)

日期:2021 年 7 月 21 日星期三 16:00-17:00
视频发布期间:2021年8月10日(星期二)至2021年9月10日(星期五)

*因展览期结束,展览于9月10日(星期五)结束

考虑到新型冠状病毒感染的影响,年度联合研讨会将与去年一样在网上举行。
这次,我们将介绍WDS/EDS集成平台系统的特点、优点和分析实例,重点介绍可附加在SEM上的WDS系统(波长色散X射线分析系统),其特点是能量分辨率高,可以分析EDS难以使用的痕量元素。

如果您有可以连接到网络的环境,则不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。

联合主办:JEOL Co, Ltd、牛津仪器有限公司

网络研讨会

高通量通用 SEM JSM-IT500 简介

2021 年 7 月 21 日星期三 16:00-16:30 -①

网络研讨会 1-1

扫描电子显微镜(SEM)可以在μm到nm量级范围内观察和分析样品的表面,因此在研发和质量评估等方面有着广泛的应用。这些地点对 SEM 的要求包括测量速度和多功能性。
在本次讲座中,我们将介绍基于这些要求而开发的JSM-IT500。
在速度方面,我们将重点关注从将样品附着到腔室平台到测量的可操作性,在多功能性方面,我们将重点关注使用大型样品室和牛津仪器的 EDS 和 WDS 的元素分析。

作田佑介

讲师
作田佑介

日本电子有限公司
科学与测量仪器销售部
SI促销办公室
SI技术促销组1

进化横截面抛光机™ (CP)
高通量铣削系统简介 (IB-10500HMS)

2021年7月21日星期三 16:00-16:30 -②

网络研讨会 1-2

SEM 观察和分析需要在损伤最小的情况下制备样品。通过使用 Ar 离子束,可以制备具有最佳横截面和表面的样品。然而,传统机器存在处理速度慢和吞吐量问题。
这次,通过在使用Ar离子束的横截面样品制备装置(CP)上安装高通量铣削系统(HMS),我们实现了比传统机器两倍以上的处理速度。在本次演讲中,我们将介绍使用 HMS 进行短时加工的示例。

大本玉惠

讲师
大本玉惠

日本电子有限公司
EP业务部
EP申请部
SEM集团
第三队

新产品
WDS/EDS集成平台系统AZtecWave介绍及分析实例

2021 年 7 月 21 日星期三 16:30-17:00

网络研讨会 2

Oxford Instruments 的 AZtecWave 系统是一款与 SEM 配合使用的波长色散 X 射线光谱仪 (WDS)。
能量色散 X 射线光谱 (EDS) 在配备 SEM 的分析设备中很常见。另一方面,WDS与EDS一样,都是基于特征X射线信息进行分析的设备,但其能量分辨率是EDS的10倍以上,微量元素检测灵敏度也高一个数量级。
在本次研讨会中,我们将介绍安装在JSM-IT500上获得的分析示例。 AZtecWave与牛津仪器的EDS和AZtecLive运行在同一平台上,完全集成了EDS和WDS两种机芯。在保持AZtecLive的易用性的同时,我们还将引入一个流程,该流程可以可靠地支持从WDS的启动和检查操作到详细分析条件的所有内容。

三井千津

讲师
三井千津

牛津仪器有限公司
分析仪器事业部

在线演示简介

在线演示图片

这是一项通过互联网向正在考虑安装设备的客户介绍设备并解释其操作的服务。
多人可以同时查看。还可以进行语音通话,因此可以现场提问和解答。

好处

  • 无需亲临我们的办公室

  • 无需旅行批准

  • 可由许多设备用户确认

  • 不需要报告/每日报告

  • 演示结束后您可以立即返回工作

从申请到实施的流程

  • 如果您有兴趣,请使用查询表进行申请。

  • 代表将与您联系。
    届时,我们会询问日期和时间以及您可能提出的任何要求。

  • 我们将在指定的日期和时间开始“在线演示”。
    活动当天,我们将通过电话或电脑音频麦克风与您联系。

* 由于展览期结束,申请截至 9 月 10 日星期五

相关链接

JEOL - 牛津仪器
FIB-SEM / 采样技术“联合网络研讨会”2021(在线)
日期:2021 年 8 月 6 日星期五 16:00-17:00

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