天游线路检测中心 第81届日本显微镜学会学术会议

日本显微镜学会将于2025年6月9日（星期一）至6月11日（星期三）在福冈国际会议中心举行的第81届日本显微镜学会学术会议上举办公司展览。
学术讲座和赞助研讨会仅向已注册的人员开放，但任何人都可以参加显微镜体验研讨会、公司展览和午餐研讨会。

我们期待您的光临。

• 仅显微镜体验工作坊需要预先注册

日期/地点

• 日期：
  2025年6月9日星期一至2025年6月11日星期三9:00-17:30（直到最后一天15:00）

• 地点：
  福冈国际会议中心
  福冈县福冈市博多区石条町 2-1 邮编 812-0032地图

• 展位号：
  B

展览内容

实机

IB-19540CP

样机

聚集-X

远程演示

JEM-120i

面板

• EM：SightSKY™ /TEMPO（触发事件调制概率观测）/JEM-120i

• SA：JXA-iHP200F/JXA-iSP100/SXES/

• EP：IB-19540CP/IB-19550CCP/JSM-IT810/JIB-PS500i/Gather-X

• SOL：设备使用服务

午餐研讨会

6 月 9 日星期一 12:00-12:50

地点：C会场福冈国际会议中心5楼502/503

①“推出 MicroED，这是一种使用不暴露在大气中的 XtaLAB Synergy-ED 的新应用”

XtaLAB Synergy-ED 是 JEOL 和 Rigaku 联合开发的集成电子衍射平台。从数据采集到结构分析的一切都是完全自动化的，使得使用电子衍射分析晶体结构变得容易。用于操作和分析的软件X新开发的基于线性单晶结构分析软件的电子衍射CrysAlis^专业版ED在X使用与线单晶结构分析相同的工作流程可以对亚微米单晶进行结构分析。在本次研讨会中，我们将介绍该设备的特点、操作方法和应用。

• 演讲者：
  青山义明

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EM 业务部 EM 应用部

②“综合分析平台“FEMTUS”^TM“多方面观察~使用多种分析方法同时收集数据~”

通过在透射电子显微镜上添加附件，您不仅可以获得样品的精细结构，还可以获得成分、化学状态等各种数据。通过引入此处介绍的集成分析平台“FEMTUS™”，不再需要以前每个附件（如 EDS 和 EELS）所需的控制软件，并且可以在单个高度复杂的窗口中设置测量条件。此外，还方便了每个附件的同步数据采集和元数据同步，减轻了数据采集后操作人员的负担。

• 演讲者：
  恋沼元

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EM 业务部 EM 应用部

6月10日（星期二）12:00-12:50

地点：C会场福冈国际会议中心5楼502/503

①“冷却FIB-SEM原理及应用实例介绍”

在电子显微镜观察和分析中，选择最佳的样品制备方法极其重要，这样可以减少样品制备造成的伪影，并在接近真实外观的状态下测量样品。在使用离子束制备样品的情况下，众所周知，可以通过在对热敏感的处理过程中冷却样品来减少伪影。在本讲座中，我们将概述 FIB-SEM 中的样品冷却方法并提供其应用示例。

• 演讲者：
  松岛秀树

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部 EP 应用部

②“介绍最新的CP~远程控制，流畅的GUI，空气不曝光调节~”

CP (Cross Section Polisher™) 是一种使用氩离子束的截面样品制备装置，用于 SEM、FIB 等的预处理。最新的 CP 配备了用户友好的 GUI，可以通过远程控制检查加工状态并更改加工条件。此外，电池材料加工等中使用的非暴露空气保持器的操作性也得到了提高。这次，我们将介绍这些新功能及其便利性。

• 演讲者：
  大本玉惠

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部 EP 应用部

③"- 简化SEM测量工作-引入自动观察和分析功能“Neo Action”"

扫描电子显微镜 (SEM) 广泛应用于研发、质量保证和产品检验。这些应用通常需要采集大量图像和分析数据，并且对自动化的需求不断增加。 JEOL 高分辨率 SEM JSM-IT810 的自动功能（自动调节焦点、散光和光轴）取得了重大进步，使自动观察和分析变得实用。 Neo Action 是一种自动执行所有操作的功能，包括移动 SEM 视野、改变测量条件、调整光学系统、获取图像以及使用 EDS 进行多视野元素分析。在本次演讲中，我们将介绍Neo Action的特点和应用示例。

• 演讲者：
  高山隼

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部 EP 应用部

容量

100 人

注释

预订票在会议接待处分发。

参与费

免费

如何申请

预订票在会议接待处分发。或者请您到时候到场。但持有提前预订票的人士将享有优先权。

显微镜体验工作坊

在“显微镜体验工作坊”中，您将使用扫描电子显微镜和光学显微镜体验微观世界。我们特别期待对下一代负责的小学生、初中生和高中生的参与。

研讨会信息打印材料(156MB)

• 赞助商：
  日本显微镜学会

• 日期：
  2025 年 6 月 8 日星期日 15:00-16:30

• 地点：
  福冈国际会议中心5楼会议室502/503
  福冈县福冈市博多区石条町 2-1 邮编 812-0032地图

• 容量：
  60人

• 参与费：
  免费

“发现！探索！微观世界（由 天游线路检测中心 提供）”

使用任何人都可以使用的 JEOL 扫描电子显微镜 NeoScope™ 探索微观世界的美丽结构和功能！远征！让我们。

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