天游线路检测中心 非暴露运输
非暴露运输系统
由于电池中使用的材料含有高反应性锂，因此担心如果暴露在大气中，它们可能会劣化。即使在制造过程中，也需要干燥室等非暴露环境。
JEOL的设备构建了可以在不暴露于大气的环境中进行处理、观察和分析的系统。
您可以观看支持非曝光运输的处理、观察和分析设备的介绍影片。◆单击上方框中的播放按钮开始播放电影。 （4分12秒）◆
非曝光处理/观察工具
使用转移容器，可以在不暴露的情况下运输每个分析设备并与其协作。转移容器具有各种用底座和盖子密封的样品架，如下所示。与转移容器不兼容的 TEM 和 XPS 也可以使用如下所示的专用非曝光/分析支架，无需曝光即可使用。
CP-SEM 通用CP-EPMA 普通转运容器
CP-FIB 普通转运容器（CP-FIB-SEM-TEM联动）
CP-AES 通用转移容器
TEM非曝光观察/分析支架
XPS 非曝光观察/分析支架
从宽截面加工点中选择的微区域TEM加工/观察工具
下面所示的支架可以配备 TEM 支架芯片，从而可以使用同一支架进行使用 CP 的宽截面加工和使用 FIB-SEM 的薄片加工。
CP-FIB 普通转运容器
CP-FIB-SEM-TEM联动
CP截面和薄膜提取位置确定
SEM图像（二次电子图像）和EDS图
FIB薄膜加工
TEM 观察/分析
ADF-STEM 图像和 EELS 图
提供的示例：丰桥工业大学电气电子信息工程系松田敦典教授
您可以观看内部目标样品制备的介绍影片——电池多层结构。◆单击上方框中的播放按钮开始播放电影。 （1分21秒）◆
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