天游ty8检测中心 SEC 制备分离和 NewSpiralTOF™ 分析分子量高达 100,000 的聚碳酸酯端基
MS 提示第 527 号
基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 (MALDI-TOFMS) 可以检测较宽质量范围内的单电荷离子，使其成为合成聚合物表征的有力工具，包括确认分子量分布和估计端基组成。然而，当分析具有高多分散性的聚合物时，问题是“质量辨别”，其中高分子量区域中的离子强度较低。为了解决这个问题，已知使用尺寸排阻色谱法(SEC)根据分子量进行分级，降低多分散性，然后使用MALDI-TOFMS进行测量是有效的。一般来说，低分辨率线性TOF常用于测量分子量超过10,000的合成聚合物，但由于质量精度较低，无法用于估计端基组成。在本报告中，对具有高多分散性的聚碳酸酯（PC）进行了 SEC 分级，并天游ty8检测中心高精度 MALDI-TOFMS 进行端基分析。
实验
将通过光气法合成的10mg聚碳酸酯溶解于5mL氯仿中。 MALDI-TOFMS的样品分级是使用图1所示的SEC和分级装置在表1所示的条件下进行的。利用该分级装置，可以在喷射加热的氮气的同时进行分级。由于溶剂在分级分离的同时蒸发，因此可以通过将级分堆叠在同一杯中来轻松地增加样品量。 SEC 色谱图以及每个馏分的样品量、多分散性和绝对分子量估计值如图 2 和表 2 所示。通过使用此 SEC 分级装置，天游ty8检测中心实现了约 90% 的高回收率。对多分散性约为 11 的组分 ② 至 ⑧ 进行 MALDI-TOFMS 测量。对于 MALDI-TOFMS 样品制备，将 10 µL 氯仿添加到金属杯中，将各 1 µL 分级溶液和 10 µL 基质溶液 (DCTB) 混合，并将混合物滴到 1 µL 板上并干燥。将阳离子化剂溶液(NaTFA)滴加到板上并预先干燥。之后，在JMS-S3000“NewSpiralTOF™”的螺旋正离子模式下进行测量。
桌子 1准备条件
图 2 SEC色谱图
图1制备分离系统
表 2分馏结果
结果
图 3 显示了馏分 ② 至 ⑧ 的质谱。使用 SEC 分馏器分馏具有高多分散性的 PC 可以获得良好的质谱。此外，每个质量范围内的同位素模式（对于估计端基组成很重要）以放大视图显示。单同位素峰是m/z由于可以在高达约 5000 的足够离子强度下进行观察，因此天游ty8检测中心使用该区域的精确质量进行了端基分析。图 4 显示了组分 ⑥ 至 ⑧ 的质谱。从精确质量进行端基分析，推测绿色箭头为环状低聚物，蓝色/浅蓝色箭头为图中所示结构。这两个系列作为主要系列被观察到分子量高达80,000。
摘要
通过将 SEC 分级分离系统与 NewSpiralTOF™ 相结合，可以使用 MALDI-TOFMS 进行高效分级，从而测量高多分散性的样品。
天游ty8检测中心确认了每个质量范围内同位素模式的变化，并相应地检查了高精度质量精度。
致谢
天游ty8检测中心衷心感谢东曹分析中心有限公司和ST Japan Co, Ltd 提供 SEC 分级样品。
图 3 SEC色谱图
图 4馏分 ⑥ 至 ⑧ 和主系列末端基团的质谱
