天游线路检测中心 使用JMS-S3000“SpiralTOF™-plus20”和“msRepeatFinder”对紫外线照射降解的聚对苯二甲酸乙二醇酯进行差异分析[MALDI应用]
MS 提示 422 号
简介
基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 (MALDI-TOFMS) 是聚合物分析的强大工具。 MALDI主要产生单价离子，因此m/z是聚合物离子的质量。使用高分辨率MALDI-TOFMS，可以根据重复单元和端基组成的差异轻松识别聚合物系列，并计算每种聚合物的分子量分布。最近，肯德里克质量缺陷（KMD）方法已被用来轻松地可视化复杂的高质量分辨率质谱中包含的聚合物系列。聚合物的端基会因暴露于热或光、酸或碱处理等而发生变性。本应用笔记报道了一个应用 msRepeatFinder 中实现的差异分析功能对紫外线照射降解的聚对苯二甲酸乙二醇酯 (PET) 进行端基分析的示例。
图 1PET结构式
实验
准备两种市售PET膜作为样品。将一侧暴露在紫外线下30分钟使其劣化。以2',4',6'-三羟基苯乙酮一水合物(THAP)为基质，三氟乙酸钠(NaTFA)为阳离子化剂。将各膜用导电胶带固定在板上，并将基质和阳离子化剂的混合溶液滴在其上并干燥。使用JMS-S3000“SpiralTOF™-plus20”的SpiralTOF正离子模式，对每个膜采集3次质谱，并使用msRepeatFinder V6进行KMD分析。
结果
图2显示了UV照射前(a)和UV照射后30分钟(b)的质谱。虽然两者都观察到间隔为 192u 的峰组，但它们是在劣化之前和之后观察到的m/z的变化表明终端组已经改变。接下来，两个质谱峰列表的 KMD 图（基本单元 C10H8O4，除数 191) (c) 被叠加显示。蓝色图为紫外线照射前，红色图为紫外线照射后。在KMD图上，与横轴平行排列的系列是具有不同端基的聚合物系列。由于使用 KMD 图进行直接比较很困难，因此进行了差异分析。
图 2 PET 紫外降解前（a）和后（b）的质谱图。还显示了重叠的 KMD 图 (c)
在差异分析中，在UV照射之前和之后样品的质谱(各3个)中包括的峰中，质量误差在10mDa以内的峰被认为是相同的。图3显示了UV照射之前和之后的平均质谱。这里，整个质谱的离子强度被归一化为相同。图4a显示了差异分析结果的火山图。横轴是Log2(UV照射前平均离子强度/UV照射后平均离子强度)，纵轴为-Log10 (p値)である。すなわち、右上青枠はUV照射前に特徴的なピーク群であり、左上赤枠はUV照射後に特徴的なピークである。Figure4bには、p値 >005，对数2(UV照射前的平均离子强度/UV照射后的平均离子强度)是KMD图(基本单位C10H8O4，除数 191)。蓝色和浅蓝色为UV照射前的特征峰，红色为UV照射后的特征成分。通过以这种方式进行差异分析，可以提取UV照射之前和之后的特征峰组。估算端基组成的结果是，UV照射前的主要成分是环状低聚物，UV照射后的主要成分是两端带有羧酸的系列（均为[M+Na]+)。
图3 PET 紫外降解之前（蓝色）和之后（红色）的平均质谱。
图 4 差示分析的火山图(a)和UV照射前后质谱特征峰的KMD图。
摘要
在本应用说明中，我们证明可以使用 msRepeatFinder 的差异分析功能可视化紫外线照射前后 PET 端基的差异。 JMS-S3000 的高质量分辨率使分离端基组分的差异可视化成为可能，这在聚合物分析中非常有用。
