天游线路检测中心 JEM-2100：纳米技术中的应用

本文总结了使用 JEOL JEM-2100 (LaB6) 高分辨率电子显微镜进行纳米材料结构表征的两年经验。该仪器与包含 ADF 和 BF 检测器的扫描装置以及用于元素分析的 EDS 系统集成。尽管显微镜安装在没有特殊地下室、配有标准空调的小房间内，并且没有采取特殊预防措施来避免气温变化或减弱声音和振动干扰，但显微镜仍提供了出色的全天候性能。
在 HRTEM 模式下，可以实现 117 Å 的晶格分辨率； STEM提供的仪器分辨率约为10nm。该系统的功能在纳米材料研究应用的几个例子中得到了证明。