天游8线路检测中心 FIB 的 TEM 样品制备方法：批量拾取法

天游8线路检测中心拾取方法的 FIB 进行 TEM 样品制备方法具有许多优点，例如无需事先进行材料处理，消除样品损失，但也存在缺点，例如无法观察磁性材料、薄膜处理后无法返回 FIB 进行额外处理以及难以制备用于平面方向观察的样品。在这篇评论中，我们将介绍一种克服这些缺点的批量取货方法。