天游线路检测中心 使用 FIB 的 TEM 样品制备方法：提升法

本评论介绍了使用 FIB 的玻璃操纵器的 TEM 样品制备方法。如果无法提前将材料插入TEM样品架中，则需要花费大量时间来切割材料。此外，大部分样本都会丢失。因此，目前的主流方法是利用FIB仅将材料的必要部分加工成薄膜，用连接在分离光学显微镜上的机械手尖端上的玻璃探针将其拾取，并将其放置在碳等支撑膜上。下面，我们就来介绍一下取货方法的具体步骤。