天游线路检测中心 JMS-S3000 SpiralTOF™ 系列成像应用笔记本
2022 年 11 月版本
2022 年 11 月版本
本手册（应用笔记本）是与成像质谱相关的应用说明和 JEOL 新闻文章的汇编，这些文章基于使用 JEOL 超高分辨率 MALDI-TOFMS JMS-S3000 SpiralTOF™ 系列测量的数据。
请参阅 PDF 文件了解更多信息。
目录
硬件/软件介绍P1～
使用螺旋离子轨道开发MALDI-TOF/TOF（佐藤贵哉，JEOL 新闻 42, 27 – 30, 2010）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”进行高分辨率质量成像并使用统计方法进行数据分析（MSTips No 370）
JMS-S3000“SpiralTOF™-plus”成像质谱能力的改进（MS Tips 304）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”进行 MALDI 成像测量m/z的稳定性（MS 提示 193）
生命科学/生物分子P11～
使用高质量分辨率 MALDI-TOFMS 进行药物成像质谱分析（MS Tips 212）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”和 msMicroImager™ 进行高质量分辨率质量图像分析（MS Tips 211）
使用成像质谱和扫描电子显微镜进行指纹分析（MS Tips 208）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”阴性模式对小鼠脑组织切片上的脂质进行质量成像（MS Tips 196）
高分子/材料P27～
使用成像质谱和扫描电子显微镜（HS05）分析聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜在紫外线照射下的降解
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™-plus”对紫外线照射下的聚对苯二甲酸乙二醇酯降解进行成像质谱分析（MS Tips 307）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™-plus”对合成聚合物进行成像质谱分析～与Kendrick质量缺陷法结合～（MS Tips 306）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™-plus”成像质谱中合成聚合物的可视化方法（MS Tips 305）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”在具有导电和非导电部件的基底上进行质谱成像（MS Tips 288）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”分析亚克力板上的有机化合物（MS Tips 251）
使用 Ag SALDI 进行成像质谱分析并通过 XPS 测量分析深度 (HS004)
纸张表面圆珠笔墨水的分析~使用 JMS-S3000 进行质量成像并使用 SEM/EDS 进行元素分析~（MS Tips 204）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”的有机 EL 材料测量示例~与现有表面分析方法的比较~（MS Tips 201）
使用 JMS-S3000“SpiralTOF™”通过激光解吸电离法进行有机薄膜分析（佐藤贵哉，JEOL 新闻，46, 53 – 58，2014）
