天游线路检测中心 GC-QMS 方法分析漆膜废料中的低浓度 PCB
MS 提示 314
简介
1968 年金见游翔事件后，多氯联苯 (PCB) 的毒性成为社会问题，并禁止其生产和进口。随后，2001年，《关于促进多氯联苯废弃物妥善处理的特别措施法（俗称PCB对策法）》颁布，要求储存PCB废弃物的企业在2020年3月月底之前处理掉低浓度PCB废弃物。作为低浓度PCB废弃物的分析方法，环境部制定了《含有低浓度PCB的废弃物的测定方法》。 2019年10月发布的第四版中，当测量对象为漆膜废料（氯化橡胶漆或氯颜料）时，只能天游线路检测中心质谱仪（包括串联型）作为气相色谱（GC）检测器。这是因为漆膜样品本身含有大量的含氯化合物，这往往使得天游线路检测中心电子捕获检测器（ECD）进行适当的分析变得困难。这次，我们天游线路检测中心气相色谱四极杆质谱仪JMS-Q1500GC测量了漆膜废料的实际样品，并天游线路检测中心二恶英分析程序“DioK”对其进行了定量分析，并将报告结果。
实验
PCB标准溶液OIL-CVS-B(Wellington Laboratories制造)用作创建校准曲线的标准溶液。将两种漆膜废料(600mg)样品(以下称为样品A和B)作为待定量样品，并天游线路检测中心PCB标准溶液MBP-MXP(Wellington Laboratories制造)作为内标。表1的左侧显示了OIL-CVS-B中所含的异构体(Native)及其浓度。此校准曲线溶液（CS1-B 至 CS6-B）对于每种同源物含有至少一种具有不同氯数的异构体13C标记物质作为内标（以下简称“IS”），浓度为40 ng/mL。 PCB标准溶液MBP-MXP含有与表1右侧IS类似的异构体。测定天游线路检测中心气相色谱四极杆质谱仪JMS-Q1500GC，测定条件参照《绝缘油中痕量PCBs简易测定手册(第3版)》(以下简称《手册》)设定(表2)。另外，表3表示一氯化联苯(M1CB)～十氯化联苯(D10CB)的SIM测定中的定量离子和确认离子。注意，对于OIL-CVS-B，各浓度的标准溶液连续测量3次，而对于样品A和B，各仅测量1次。所有数据均天游线路检测中心 DioK 进行分析。
表1校准溶液的浓度
| 本地 | 内部标准 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 同系物 | IUPAC | CS1-B（纳克/毫升） | CS2-B（纳克/毫升） | CS3-B（纳克/毫升） | CS4-B（纳克/毫升） | CS5-B（纳克/毫升） | CS6-B（纳克/毫升） | IUPAC | CS1-B～CS6-B（纳克/毫升） |
| M1CB | 3 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 3L | 40 |
| D2CB | 8 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 8L | 40 |
| T3CB | 28 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 28L | 40 |
| T4CB | 52 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 52L | 40 |
| P5CB | 101 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 101L | 40 |
| P5CB | 118 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 118L | 40 |
| H6CB | 138 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 138L | 40 |
| H6CB | 153 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 153L | 40 |
| H7CB | 180 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 180L | 40 |
| O8CB | 194 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 194L | 40 |
| N9CB | 206 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 206L | 40 |
| D10CB | 209 | 0.5 | 2 | 10 | 40 | 200 | 1000 | 209L | 40 |
表2测量条件
| GC | |
|---|---|
| 专栏 | DB-5ms（安捷伦科技公司）30m×025mm内径，df=025μm |
| 进样口温度 | 250°C |
| 烤箱温度。程序 | 100℃(1分钟)→20℃/分钟→160℃→3℃/分钟→220℃(3分钟)→6℃/分钟→295℃(5分钟) |
| 注射模式 | 不分流 |
| 载气 | He，12mL/分钟（恒流） |
| MS | |
| 离子源温度。 | 230°C |
| 接口温度。 | 280°C |
| 电离模式 | EI |
| 电离能 | 70eV |
| 电离电流 | 50μA |
| 测量模式 | SIM 卡 |
| 相对电磁电压 | 700V |
表 3 每种目标 PCB 物质的选定离子
| M1CB | D2CB | T3CB | T4CB | P5CB | H6CB | H7CB | O8CB | N9CB | D10CB | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 本地 (m/z) | 定量 | 188.0 | 222.0 | 256.0 | 289.9 | 325.9 | 359.8 | 393.8 | 429.8 | 463.7 | 497.7 |
| 确认 | 190.0 | 224.0 | 258.0 | 291.9 | 323.9 | 361.8 | 395.8 | 427.8 | 461.7 | 499.7 | |
| 内部标准 (m/z) | 定量 | 200.1 | 234.0 | 268.0 | 302.0 | 337.9 | 371.9 | 405.8 | 441.8 | 475.7 | 509.7 |
| 确认 | 202.1 | 236.0 | 270.0 | 304.0 | 335.9 | 373.9 | 407.8 | 439.8 | 473.7 | 511.7 | |
结果
表 4 显示了从 PCB 标准溶液中获得的每种同系物的平均相对响应因子 (Av-RRF) 及其相对标准偏差 (RSD)。 Av-RRF的RSD为28%至68%，证实满足手册中规定的20%或更小的容差值。之前报道过MS 提示 310中所介绍的，DioK 允许您轻松检查每种同系物的 Av-RRF 的 RSD 及其是否在允许值之内。天游线路检测中心表4中的Av-RRF计算样品A和B中各同源物的浓度，并将组合值转换为样品中的浓度。 PCB 浓度分别为 479 mg/kg 和 117 mg/kg。接下来，我想介绍一下DioK在定量分析中识别污染物成分并将其排除在定量计算之外的能力。图 1 显示了样品 B 中 PCB 浓度较低的一氯化联苯 (M1CB) 至十氯化联苯 (D10CB) 同系物的定量离子和确认离子的平均色谱图。之前报道过MS 提示 310中所述，在 DioK 中指定为异构体且比率检查在可接受值（手册中为 20% 或更低）内的峰显示为绿色。对于M1CB和D10CB，无法确认要定量的异构体。其他同系物均获得良好的色谱图，证实异构体已分离。
表 4 每个同源物的 Av-RRF 结果
| M1CB | D2CB | T3CB | T4CB | P5CB | H6CB | H7CB | O8CB | N9CB | D10CB | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| RRF | 1.14 | 1.02 | 1.00 | 1.07 | 1.08 | 0.99 | 1.09 | 1.18 | 1.09 | 1.11 |
| RSD(%) | 2.8 | 3.5 | 4.6 | 5.4 | 4.3 | 3.9 | 4.6 | 6.8 | 4.3 | 5.3 |
图。 1 每个 PCB 同系物的 SIM 色谱图
然而，观察图1，除了绿色峰之外，在平均色谱图中还观察到蓝色峰。蓝色峰未指定为异构体，并且比率检查超出允许范围。图2显示了O8CB的平均同系物色谱图和DioK模板中记录的保留时间。由此可见，除了待定量的异构体的绿色峰外，在 O8CB 中还可以看到两个高强度的蓝色峰。观察O8CB的定量离子和确认离子的各个色谱图（图3），在定量离子色谱图中特别频繁地检测到蓝色峰，因此可以说它来自污染物成分。这样，通过DioK，可以容易地确认污染物成分的影响并防止误分配，从而可以进行不受污染物成分影响的定量分析。
图。 2 天然化合物的色谱图和记录的保留时间 (O8CB)
图。 3 定量和确认离子 (O8CB) 的色谱图
摘要
在本报告中，我们尝试天游线路检测中心 JMS-Q1500GC 对漆膜废料的实际样品进行定量分析。结果，计算出样品A和B中的PCB浓度分别为479mg/kg和117mg/kg。DioK allows you to identify peaks of contaminant components using the peak color and the two-stage display function of quantitative ions and confirmation ions, allowing quantitative analysis to be performed without being affected by contaminant components
参考文献
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