JEOL 是唯一一家拥有自己的 EDS 和电子显微镜的制造商。我们提供 JEOL 专门为每个 SEM 型号开发的 EDS。它与SEM操作屏幕完全集成，因此即使在SEM运行时，您也可以直接从观察屏幕进行分析。
功能
与SEM集成的简单操作图标
EDS 谱（实时分析）和元素图（实时图）可在 SEM 观察过程中随时显示。
图像和视频是 JCM-7000 NeoScope™ 台式扫描电子显微镜的示例。
从元素贴图自动创建合金层！简单方便的物相分析
从仅显示元素分布到显示化合物！
两种类型的相位分析（簇和VCA）可用于视觉显示！
相分析（红框）只需触摸按钮即可自动从地图数据中执行相分离。
簇相分析相同的化合物以相同的颜色显示。
VCA 相分析显示明暗对比的化合物（显示更多/更少的成分）。
基本上是自动的，但您也可以手动设置相数。
背散射电子成分图像
团簇相分析模式
不要错过元素或样本变形的变化！通过回放记录 EDS 随着时间的变化
用例①
对于 SEM 内加热/冷却导致的形状/元素分布变化（原位观察）很有用！
获取 EDS 元素图（140 倍速度）后使用回放分析的橡皮擦表面动画
这使我们能够捕捉到电子束如何使砂擦表面变形，并且元素分布也发生变化。
使用示例②
如果样本在元素图谱过程中发生变形，可以使用该功能只提取并提交变形前的数据！
用例 ③
对于调整/估计元素图集成的数量很有用！
自动测量颗粒数量、尺寸和元素信息的强大盟友！粒子分析
规格/选项
JEOL EDS 通用规格
探测器类型：SDD（无液氮）
可检测元素：Be~U
标准功能：定性分析、简单定量分析、元素图、图蒙太奇
可选功能：相位分析、回放、粒子分析等
| JCM-7000 | JSM-IT210 | JSM-IT510JSM-IT710HR | JSM-IT810 | |
|---|---|---|---|---|
| 受光面积(mm2) | 30 | 30, 60 | 30, 60, 100 | 30, 60, 100 |
| EDS 多重安装 | ー | ー | 〇（最多3个） | 〇（最多3个） |
| Gather-X 探测器 | ー | ー | ー | 〇（最多3个） |
*粗体字母是每个设备的标准规格
由于是一体化产品，可插入多根管子，在凹凸不平的样品上无阴影，甚至易受电子束损伤的样品也能加速且无损伤！
