天游线路检测中心 [已售完] JSM-IT300HR InTouchScope™ 扫描电子显微镜

JSM-IT300HR 是 JEOL InTouchScope™ 系列的新型号。
配备新开发的高强度电子枪和镜头系统，实现了令人惊讶的高图像质量观察、高灵敏度和高空间分辨率。
这是一款最先进的扫描电子显微镜，具有卓越的性能，同时保持了 InTouchScope™ 系列广受欢迎的舒适操作性。

功能

惊人的性能

视频介绍

舒适的操作性：配备高强度电子枪，最大限度地减少从观察到分析的调整工作

即使在分析条件下（工作距离：10mm，照射电流：1nA），也可以清晰地获取100,000倍大的图像。

通用 W-SEM

在观察条件下，100,000 倍放大图像清晰（左），但在分析条件下，它变得模糊（右）。

×100,000 观察条件(1pA) 样品：Au颗粒

×100,000 分析条件(1nA) 样品：Au颗粒

JSM-IT300HR

JSM-IT300HR 即使在分析条件下也能提供清晰的图像。

观察容易观察低加速电压和低真空模式

即使在×50,000至×100,000等高倍率下也可以进行高图像质量观察，从而可以确认微小结构。

低加速电压

• 费用减少
• 热伤害减少

样品：未经导电处理的纤维素纳米纤维（CNF）
即使加速电压为1 kV，也可以在高倍率下观察每根纤维的厚度。
加速电压：1 kV，放大倍数：×30,000
高真空模式二次电子图像

样本提供者：
京都大学可持续人类圈研究所生物功能材料系
先生矢野博之、阿部健太郎先生

低真空模式+低加速电压

• 费用减少
• 光束伤害减少
• 高空间分辨率

样品：蓝光切割玻璃的横截面（使用聚焦离子束加工和观察装置JIB-4000进行的横截面加工：FIB）
通过使用低真空功能，无需进行导电处理即可观察绝缘材料。
加速电压：3 kV，放大倍数：×50,000
低真空模式背散射电子成分图像

元素分析 配备ACL（孔径角优化镜头），使亚微米区域的元素分析变得容易

更轻松、更快速的数据采集

• 触摸屏功能是 InTouchScope 系列的一大特色，可实现像平板电脑一样直观的操作。
• 包含 JEOL 集团专有技术的标准配方功能可为各种领域准备观察条件。通过简单地选择您想要从标准配方中获取数据的样品，此方便的功能可以自动设置任何样品的观察和分析条件。
• 结合载物台导航系统（可选）使寻找视野变得非常容易。当您双击用 CCD 相机拍摄的彩色图像时，载物台会高速移动到该位置。您可以像用肉眼检查观察位置一样搜索视野。

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新闻稿

开始销售新型扫描电子显微镜 JSM-IT300HR - 配备新开发的高亮度电子枪和透镜系统的高性能 SEM -

研讨会

2016年12月16日（星期五）扫描电子显微镜JSM-IT300HR高级研讨会（西日本解决方案中心）

申请

与 JSM-IT300HR 相关的应用

通过 SEM-EDS 对金属部件进行大面积测量

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