[已售完] JSM-7500F 场发射扫描天游8线路检测中心显微镜 |产品信息|天游线路检测中心株式会社| 天游线路检测中心株式会社产品信息|日本日本株式会社

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功能

这是一种通过结合场致发射型天游8线路检测中心枪、半透镜方式和柔和光束（GB）来追求高分辨率的SEM。与GB结合，即使在极低的样品能量达到数百eV的情况下也可以获得高分辨率，使其成为观察最外层表面的理想设备。当然，可以安装元素分析等各种选项。

保持多功能性并提供最高分辨率的组合

JSM-7500F是一款SEM，其光学系统结合了即使在低加速电压下也能缩小天游8线路检测中心束的场致发射天游8线路检测中心枪和半透镜内物镜。与通用 SEM 一样，即使对于大样品也可以进行高分辨率观察。

使用柔和光束使用极低能量入射天游8线路检测中心进行顶面观察 (GB)

通过向样品施加偏置电压并用天游8线路检测中心束照射它，您可以使用 GB 模式，与普通模式相比，它可以提高分辨率。通过与具有高分辨率的 JSM-7500F 光学系统相结合，可以利用天游8线路检测中心来观察样品的最外层表面，样品的能量达到数百 eV，这在以前很难以高分辨率进行观察。

使用新的 r 滤波器选择性检测二次天游8线路检测中心和反射天游8线路检测中心

新型r滤波器有四种类型：标准SB（二次天游8线路检测中心检测）模式、标准BE模式（背散射天游8线路检测中心检测）、Sb模式（二次天游8线路检测中心优先）和Bs模式（背散射天游8线路检测中心优先）。在Sb模式下，反射天游8线路检测中心可以与二次天游8线路检测中心以任意比例混合进行检测。 Bs模式可以检测以任意比例与反射天游8线路检测中心混合的二次天游8线路检测中心。这些操作可以在易于理解的菜单窗口上通过一键式操作来执行。

应用示例

使用高分辨率光学系统观察最外层表面的精细结构 JSM-7500F 是一款 SEM，其光学系统结合了即使在低加速电压下也能缩小天游8线路检测中心束的场致发射天游8线路检测中心枪和半透镜内物镜。此外，通过添加GB模式，可以利用到达样品的能量极低的天游8线路检测中心来观察SEM图像，从而更容易观察样品的最外表面。下左图是聚合物晶体的 SEM 图像，显示了最外表面的晶体生长步骤。底部中心和右侧的图像是观察介孔二氧化硅微观结构的示例。可以清楚地观察到微小的毛孔。

样品：聚合物晶体
样品到达能量：05keV

样品：介孔二氧化硅
样品到达能量：08keV

规格/选项

二次天游8线路检测中心图像分辨率	10nm (15kV), 14nm (1kV)
放大倍数	×25～×1,000,000
加速电压	01kV～30kV
照射电流示例	1pA～2nA
自动光圈角优化镜头	嵌入式
探测器	上部探测器向下探测器
能量过滤器	新的 r 滤波器
柔和的光束	内置
数字图像	1,280×960像素、2,560×1,920像素 5,120×3,840 像素
样品交换室	内置一键兑换功能
样品台	同心、5 轴电机驱动
类型	IA	二	三
X-Y	70毫米×50毫米	110mm×80mm	140mm×80mm
坡度	－5～＋70°	－5～＋60°	－5～＋60°
旋转	360°	360°	360°
工作距离	15mm～25mm	15mm～25mm	15mm～25mm
排气系统	3 SIP、磁悬浮 TMP、RP、前级疏水阀
节能设计	标准运行：12kVA 睡眠模式：1kVA 操作系统关闭时：076kVA