从观察到分析无缝衔接。它是一种通用热离子电子枪型 SEM，可以使用标准配方轻松设定条件，可以满足广泛用户的需求。标准大样品台搭配5轴电机台，方便寻找视场。这是一款热离子枪式通用型SEM，可以满足广泛用户的需求。从观察到分析无缝衔接。可以使用标准配方轻松设置条件。标准大样品台搭配5轴电机台，方便寻找视场。
功能
操作导航
导航屏幕上将显示各种导航选项。
样品交换过程是流程式的，因此即使是初次使用的用户也可以轻松地交换样品。
通过舞台图形轻松找到视野。
如果您使用载物台导航系统（可选），您可以像使用光学显微镜一样搜索视野。
维护也会以动画方式显示。
舞台导航系统
标准配方
配备包含 JEOL 专业知识的标准食谱。
即使是第一次使用 SEM 的人也可以设置适合样品的条件。
大舞台
配备用于 5 轴电机驱动平台的标准大型样品室。
可容纳直径8英寸、高度80毫米的标本。
EDS 集成
您可以从 SEM 屏幕开始分析。
EDS也是我们自己的产品，所以可以用一台PC来控制。
应用示例
大样品可以直接放置在大载物台上。
具有大量脱气的样品可以使用低真空模式进行抽真空。
您可以使用可选的腔室观察镜检查所观察的样品的状况。
显示观察大型混凝土块的示例。
规格/选项
| 分辨率 | 高真空模式 30 nm (30 kV)、8 nm (3 kV)、15 nm (1 kV)低真空模式 40 nm (30 kV) |
|---|---|
| 放大倍数 | × 5 ~× 300,000（图像尺寸128毫米×96毫米） |
| 预设放大倍率 | 5 个阶段，用户可配置 |
| 标准配方 | 是 |
| 自定义食谱 | 观察条件（照射系统、图像模式、样品室压力*1）样品台 |
| 图像模式 | 二次电子图像、REF图像、合成图像※1，图像不均匀※1，3D 图像※1 |
| 加速电压 | 03kV至30kV |
| 长丝 | 工厂预对中类型 |
| 电子枪 | 全自动，手动可调 |
| 聚光透镜 | 缩放类型 |
| 物镜 | 超圆锥形状 |
| 物镜光圈 | 3步，带XY微调 |
| 散光记忆 | 是 |
| 图像移位 | ± 50 μm（工作距离10毫米） |
| 自动功能 | 对焦、曝光、污名校正 |
| 样品台 | 大型同心5轴电机驱动X：125毫米，Y：100毫米，Z：5毫米至80毫米倾斜：−10° 至 +90°，旋转：360° |
| 比较屏幕（导航器） | 4 个屏幕 |
| 样品交换 | 打开样品室门并更换 |
| 最大样本量 | 200毫米直径 |
| 电脑 | IBM PC/AT 兼容机 |
| 操作系统 | Windows 7 |
| 观察监视器 | 19 型 LCD，1 或 2※2单位 |
| 图像内存 | 640 × 480 像素、1,280 × 960 像素、2,560 × 1,920 像素、5,120 × 3,840 像素 |
| 2种实时图像显示 | 是 |
| 全屏显示 | 是 |
| 伪彩色 | 是 |
| 分屏显示 | 2 张图片，4 张图片 |
| 数字变焦显示 | 是 |
| 双弹匣 | 是 |
| 网络 | 以太网 |
| 长度测量功能 | 是 |
| 图像格式 | BMP、TIFF、JPEG |
| 图片自动保存 | 是 |
| 排气系统 | 全自动，DP：1台，RP：1或2*1台 |
| 真空模式切换※1 | 在操作菜单上，1分钟内 |
| 低真空压力*1 | 10 ～270 Pa |
| JED-2300 EDS | 是※2（详细规格请参阅JED-2300目录） |
主要选项
背散射电子探测器※1
低真空二次电子探测器
能量色散X射线光谱仪（EDS）
波长色散X射线光谱仪(WDS)
EBSD
气闸室
舞台导航系统
暗室范围
操作键盘
LaB6电子枪
图像编辑软件(Smile ViewTM)※2
操作台（750毫米宽、900毫米宽）
JSM-6610LA/JSM-6610LV 标准
JSM-6610LA/JSM-6610A 标准
申请
与JSM-6610系列相关的应用
使用扫描电子显微镜 (SEM) 拍摄和观察立体 (3D) 照片 5：立体 3D 浮雕照片集
使用扫描电子显微镜 (SEM) 拍摄和观察立体 (3D) 照片 4：浮雕立体摄影
使用扫描电子显微镜 (SEM) 拍摄和观察立体 (3D) 照片 3：立体眼镜简介
使用扫描电子显微镜 (SEM) 拍摄和观察立体 (3D) 照片 2：如何查看立体照片
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