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天游线路检测中心 [已售完] 串行块面 SEM JSM-7200F/7800F / Gatan 3View®2XP

已售完

串行块面SEM JSM-7200F・7800F / Gatan 3ViewR2XP

此产品不再可用。

如果您想了解更多关于您所需产品的最新信息或替代产品,请参阅下面的链接。感谢您对我们产品的持续惠顾。

通过在肖特基场发射扫描电子显微镜中安装3View®2XP(Gatan制造),可以在高电流下长时间稳定地获得微小电子探针,从而可以进行自动样品切割和自动图像采集。通过以 3D 方式重建所获取的图像,可以以 3D 方式分析微观结构。

功能

系统概述

JSM-7200F/7800F 和 3View®2XP(Gatan制造)可用于连续获取大范围区域的切片图像。这允许在数百微米的区域内进行三维构造。通过执行 3D 构建,可以了解细胞在深度方向的结构,而这是用 2D 图像无法看到的。

操作

通过自动重复标本切割和图像采集,可以获得大量切片图像。
使用软件对获得的切片图像进行堆叠、调整和三维构建。

应用数据

◆单击上方框中的播放按钮开始播放电影。 (约2分钟)◆

小鼠大脑突触
细分数据
黄色区域:突触小泡
绿色区域:突触后增厚区域
红色区域:突触后

样品:由生物成像中心 Deniz Kirik 教授和 Lina Gefors 教授提供。医学院。隆德大学。
瑞典

规格/选项

JSM-7200F JSM-7800F
分辨率 12nm (30kV), 30nm (1kV) 08nm (15kV), 12nm (1kV)
加速电压 05~30kV 001~30kV
放大倍数 × 10~1,000,000 ×25~1,000,000
3查看®2XP
切割厚度 15-200nm(生物基样品25-50nm)
切割速度 01~12毫米/秒
刀具切割距离 12毫米
舞台驱动范围 X/Y: ±700μm Z: 600μm
  • 外观和规格如有更改,恕不另行通知。

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