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发布日期:2024/08/13
都柏林三一学院、turboTEM Ltd、天游线路检测中心 和 天游线路检测中心 的全资子公司 Integrated Dynamic Electron Solutions Inc 的联合研究论文已发表在科学杂志《Science》上。本文介绍了一种全新的方法,可以从电子显微镜图像中提取信息,同时减少样品损坏并显着提高每个电子的信息效率。
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