天游线路检测中心 一篇关于使用 SiN 窗口芯片的相关光电子显微镜 (CLEM) 的论文发表在《Microscopy》上

发布时间：2019/01/18

谨此通知您，一篇关于使用我公司开发的SiN窗口芯片的相关光电子显微镜（CLEM）的论文已在《Microscopy》上发表。

“使用氮化硅薄膜开发新型关联光和电子显微镜联动系统”
THaruta、YIkeda、YKonyuba、TFukuda、HNishioka DOI 101093/jmicro/dfy145

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https://academicoupcom/jmicro/advance-article-abstract/doi/101093/jmicro/dfy145/5272730?redirectedFrom=fulltext