扫描电子显微镜 (SEM) 基础课程 |活动、研讨会、网络研讨会 |日本日本株式会社

发布日期：2025/10/24

参加研讨会的申请已结束

本次研讨会的报名已结束。非常感谢您的多次申请。

我们将举办“扫描电子显微镜 (SEM) 基础课程”，内容如下。
我知道您很忙，但我会感谢您的参与。

赞助商：日本电子株式会社大阪分公司
科学仪器组

日期/地点

日期：
2025 年 11 月 28 日星期五上午 10:00 起（接待从上午 9:45 开始）

地点：
JEOL 株式会社西日本解决方案中心
大阪市淀川区西中岛 5-14-5 日精新大阪南口大楼 1 楼，邮编：532-0011地图

从JR“新大阪”站主出口步行5分钟
从地铁御堂筋线新大阪站南口（7号出口）步行2分钟

目标：
使用钨型扫描电子显微镜的客户

参与费：
免费

容量：
7人（先到先得）

09:45	接待开始
10:00	讲座：如何正确使用 SEM 通过 SEM 获得的信息充电和低真空模式 “设置观察条件”以获得更好的SEM图像如何安装标本
	讲座：如何使用 EDS SEM 元素分析您可以使用 EDS 做什么分析条件设置“SEM/EDS条件设置”/“样品注意事项” 分析说明
12:00	中断
13:00	实践：使用实际 SEM 和 EDS 设备进行实践培训 *实用设备JSM-IT510LA分析扫描电子显微镜
16:00	结束

*计划可能会发生变化。感谢您的理解。
*请在附近的餐厅享用午餐。
* 没有停车场，请使用公共交通工具。
*如果您想取消或更改与会者，请在前一天联系我们。此后若对参加者有任何变更，请在活动当天向接待处提出请求。

本次研讨会的报名已结束。非常感谢您的多次申请。

日本电子株式会社大阪分公司
电话 06-6304-3942
电子邮件：sosaka[at]jeolcojp