ty8天游官网登录 SEM/表面分析/预处理研讨会@Osaka

推出 IoT Cross Section Polisher™ 的新功能
～通过高速、冷却和非曝光处理改进样品制备～

新型横截面抛光机™ (CP) 允许您通过远程控制更改加工条件并检查加工区域。它还通过 10kV 离子源实现了高研磨率，并配备了直观的操作屏幕，允许根据流程进行设置。这次，除了这些基本功能外，我们还将介绍新功能，例如不暴露在大气中的处理和改进的可操作性。

～提高SEM测量工作效率～
先进的自动观察分析功能Neo Action介绍

扫描电子显微镜 (SEM)

高自由度、高安全性FIB-SEM JIB-PS500i应用实例介绍

JIB-PS500i在XY轴上的移动范围为130毫米，载物台倾斜范围为-40至+93度，可以从多个角度处理和观察大型样品。此外，4mm WD 的短重合点可利用电子束和离子束的高聚焦特性实现高精度加工和高分辨率观察。此外，基于3D模型的防干扰机制可实现高度安全的操作。在本次演讲中，我们将介绍利用这些功能的 JIB-PS500i 的应用示例。

午餐

实机/海报展示

新开发的WDS频谱图分析介绍及分析实例

在电子探针微量分析仪 (EPMA) 中，我们通过同步元素映射和波长色散 X 射线光谱仪 (WDS) 驱动，开发了一种光谱成像方法，其峰值分辨率远远高于能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)。这种测量方法保留了分析视野内每个像素对应的光谱信息，因此可以创建净强度图和波长 ROI（区域

可在现场使用的EPMA技术~元素识别版~

电子探针显微分析仪（EPMA）具有高波长分辨率和分析微量元素的能力，作为固体表面微观区域的无损分析装置，被广泛应用于各个领域。

关于使用 AES 进行频谱采集

在俄歇电子能谱中，距样品表面约10 nm的深度约为10 nm。

对于那些使用 XPS 进行粉末分析的人
~介绍各种样品固定方法的技巧~

使用 XPS 分析粉末样品时，有多种样品固定方法，具体使用取决于样品量、目的等。

破解/实机/海报展示

从现在开始批量 EM
使用电子显微镜进行三维结构分析简介

使用电子显微镜进行三维结构分析（体积

SEM 观察基础知识
~ 掌握反射电子 ~

JEOL 提供培训课程来帮助您更有效地使用我们的设备。关于扫描电子显微镜（SEM），我们每月都会举办W-SEM标准课程、FE-SEM标准课程等内容丰富的培训课程。