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天游线路检测中心 清晰SEM观察的王牌!准分子紫外线清洁剂介绍

发布日期:2025/01/17

当用扫描电子显微镜观察样品时,随着观察时间的增加,观察区域可能会变暗或者结构可能会变得不清楚。这是由于残留在样品表面的碳氢化合物与入射电子束相互作用而造成的污染造成的。我们开发了准分子紫外线清洁剂来防止和去除此类污染,并明亮清晰地观察样品的原始结构。我们不仅将全面介绍准分子紫外线清洁剂,还将全面介绍易污染的对策。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

  • SEM 观察过程中遇到污染的一般对策

  • JEOL 销售的准分子紫外线清洁剂的防污染效果

  • 准分子紫外线清洁剂除污染控制以外的应用示例

想要参与的客户

  • 对于那些使用 SEM 的人

  • 那些使用 FIB、EPMA 和 AES 等扫描电子显微镜(而不仅仅是 SEM)的人

扬声器

植竹佑介

日本电子有限公司
EP事业部
EP申请部

活动日期/详细信息

  • 2025 年 2 月 18 日星期二 16:00 - 17:00

  • 讲座结束后有问答时间。

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演示材料

您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。

讲座录音

稍后我会发布讲座的录音。发帖时我们公司电子显微镜邮件杂志和社交网络服务。

参与费

免费(申请将按照先到先得的原则进行。请尽早申请。)

如何申请

网络研讨会已结束。
该视频现已发布,请在下面申请。

联系我们

日本电子有限公司
需求促进总部网络研讨会秘书处
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。

视频

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