天游线路检测中心 SEM/表面分析/预处理研讨会@Fukuoka
发布日期：2023/05/11
SEM/表面分析/预处理研讨会@Fukuoka 计划在该会场举行。不会有在线分发。
我们将为您提供涵盖各个领域的新技术和实用技巧等有用信息。
此外，会场还将设置海报角和CP样品制备咨询角。
此角需要提前预订。如果您有兴趣，请填写申请表。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望您能够进行有意义的讨论，作为交流信息的场所。
这是一个免费的研讨会，任何人都可以参加，不仅是使用我们设备的人，还包括使用其他公司设备的人和对设备感兴趣的人。
我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
联系我们
- 作为新型冠状病毒感染的预防措施，根据未来情况，保存方法可能会发生变化。感谢您的理解。
- 当您来访时，我们会要求您在接待处给我们两张名片。对于给您带来的不便，我们深表歉意，但请您提前做好准备。
- 活动结束后，我们将无法下载任何分发的材料或在我们的网站上发布演示视频。
- 请注意，我们可能会拒绝同一行业的其他公司或机构的注册。
活动日期
2023 年 11 月 29 日星期三
申请截止日期
截至 2023 年 11 月 22 日星期三
地点
TKP 花园城 PREMIUM 天神天空大厅 16 楼
福冈县福冈市中央区天神 1-4-1 西日本新闻会馆 16 楼，邮编 810-0001
点击此处查看地图
参与费
免费
容量为50人，先到先得。一旦达到名额，我们将关闭申请，因此请尽快申请。
程序
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 9:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:50 | 推出新型 SEM JSM-IT210/JSM-IT710HR 扫描电子显微镜 (SEM) 的应用范围很广，从制造现场、质量保证到研发，可测量各种样品，包括金属、半导体、生物技术、聚合物和电池。每个行业不仅要求测量数据的质量和可靠性，还要求吞吐量。为了满足这些需求，我们开始销售两种类型的 SEM，可以通过简单的操作输出任何数据。本次讲座，我们将介绍热离子发射型JSM-IT210和肖特基场发射型JSM-IT710HR的特点和应用实例。 | 日本电子有限公司EP业务部EP技术开发部根本善和 |
| 10:50～11:20 | 适用于SEM颗粒分析的样品分散方法介绍 粉末材料用于3D打印、电池材料、化妆品等各个领域，根据这些产品的特性管理尺寸和形状非常重要。当颗粒尺寸为微米至纳米量级时，使用 SEM 进行颗粒分析是有效的。在SEM颗粒分析中，将颗粒分散在基板上并进行测量，但如果颗粒重叠，则难以获得准确的粒径。因此，适当的颗粒分散对于精确测量非常重要。在本次讲座中，我们将介绍适用于每种粒径的 SEM 颗粒分析的分散方法的研究结果。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部高山隼 |
| 11:20～11:50 | 定量图中的新后台处理～伪背景去除功能（PBS）介绍～ 当使用电子探针显微分析仪获得背景（BG）校正图时，主要使用的方法是在峰和非峰位置进行测量并计算净X射线。虽然此方法提供了高度准确的元素分布，但测量时间较长。这次，我们开发了一种“伪背景去除功能（PBS）”，可以在不实际测量 BG 的情况下创建 BG 校正图。我们将介绍使用 PBS 的定量图和使用校准曲线法的浓度图之间的差异。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部胁本理惠 |
| 11:50～12:20 | 午餐 | |
| 12:20～13:00 | 实机/海报展示 | |
| 13:00～13:30 | 好久不见！高质量！自动SEM测量的秘密 SEM自动测量软件可以进行长期自动测量，但要记住以下几点才能继续获取良好的数据。我们将介绍为了长时间获取稳定数据应注意的要点、图像分析软件易于识别的数据获取方法以及使用Python的自由控制方法。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部河野伦太郎 |
| 13:30～14:00 | 新型无窗 EDS 探测器 Dry SD™ Gather-X 的最新趋势 去年8月发布的Dry SD™ Gather-X，基于“全能带高灵敏度分析”、“高空间分辨率MAP”和“易于使用和安全操作”的概念，正在扩大其应用范围。发布一年多来，适用机型范围不断扩大，现在可以安装多个探测器。在本次讲座中，我们将介绍Gather-X的特点及其在电池材料、催化剂、半导体和电子元件等各种材料中的使用示例。 | 日本电子有限公司EP事业部EP申请部山口由纪 |
| 14:00～14:30 | 当我专注于损失的能量时，我发现了电子态～使用 AES 的 REELS 基础知识～ 俄歇电子能谱仪不仅可以对俄歇电子进行光谱分析，还可以对二次电子和背散射电子进行光谱分析。其中，利用反射电子的能量损失光谱（REELS）不需要进行薄片切片，可以相对轻松地分析几纳米范围内固体样品表面的化学和电子状态，而不会造成损坏。因此，它被用于半导体领域。在本讲座中，我们将介绍使用俄歇电子能谱仪 (JAMP-9510F) 进行 REELS 的最佳测量条件和注意事项，以及应用示例。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部池田希乃美 |
| 14:30～15:00 | 对于那些在 XPS 波形分离方面遇到困难的人～介绍使用固定参数进行波形分离的技巧～ 使用 XPS 进行化学键状态分析时，通常会使用高斯-洛伦兹函数进行波形分离计算。虽然它易于操作并且能够分析各种样品的化学键合状态，但对于没有明显分裂峰的光谱，它可能会给出错误的结果。在本次演讲中，我们将使用JEOL的XPS软件SPECSURF来介绍一种利用参数值固定功能的波形分离计算方法，并结合实际示例。 | 日本电子有限公司SA 业务部门SA技术开发部村谷直树 |
| 15:00〜15:40 | 破解/实机/海报展示 | |
| 15:40～16:20 | 推出新型 FIB-SEM JIB-PS500i 近年来，随着半导体器件复杂性的增加，需要在微小的目标位置生产高质量的 SEM/TEM 样品。为了满足这些要求，JIB-PS500i开发了“准确识别目标位置的SEM性能”、“最大限度地减少加工损伤的FIB性能”和“从加工到观察的平稳安全的操作性”。在本次演讲中，我们将介绍JIB-PS00i的特点和应用。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部中岛佑平 |
| 16:20～16:50 | 掌握透射电子显微镜的基础和实用技术 透射电子显微镜是一种可用于多种应用的方法，而不仅仅是用于观察微观结构。在本次演讲中，我们将介绍从透射电子显微镜获取对材料分析有用的各种数据的原理和技术。 | 日本电子有限公司EM 业务部EM应用部岛正英 |
| 16:50〜17:00 | 结束语 | |
| 17:00～18:00 | 社交聚会/实机/海报展示 |
*计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
耗材优惠促销活动
10％关闭领取畅销消耗品
活动期间：2023 年 11 月 30 日星期四至 2023 年 12 月 28 日星期四
如何申请
申请截止日期已过，因此我们不再接受申请。
联系我们
日本电子有限公司用户会议秘书处电子邮件：jeolum[at]jeolcojp
- 请将[at]更改为@。
