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天游线路检测中心 第 42 届 EPMA 表面分析用户会议(东京)

发布日期:2023/05/11

今年的EPMA表面分析用户会议将在该会场举行,并同步在线直播。
与往年一样,我们将提供涵盖各个领域的新技术和实用技术的有用信息,包括外部讲师。
此外,会场还将设有介绍JEOL各种产品的专区和介绍支持公司产品的专区。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会,因此我们希望您能够进行有意义的讨论,作为交流信息的场所。
这次用户会议是一个免费的研讨会,任何人都可以参加,不仅是使用我们设备的人,还包括使用其他公司设备的人和对设备感兴趣的人。
我们理解您可能很忙,但我们期待您的参与。

※EPMA(电子探针微量分析仪)

联系我们

  • 作为新型冠状病毒感染的预防措施,根据未来的情况,保存方法可能会发生变化。感谢您的理解。
  • 如果您勾选了“我想在会场参加”,请当天前往会场。
    当您抵达时,我们会要求您在接待处给我们两张名片。对于给您带来的不便,我们深表歉意,但请您提前做好准备。
  • 会议记录(小册子)将仅分发给参加活动的人员。
    • 如果您想在线参加,请在活动结束后联系您的销售代表。
  • 每场讲座的问题仅由出席会场的人员接受。
    • 如果您在线参加,请在活动结束后填写调查问卷。
  • 活动结束后,我们将无法下载任何分发的材料或在我们的网站上发布演示视频。
  • 请注意,我们可能会拒绝同一行业的其他公司或机构的注册。

活动日期

2023 年 11 月 22 日星期三

申请截止日期

截至 2023 年 11 月 20 日(星期一)

地点

浅草桥Hulic Hall
东京都台东区浅草桥 1-22-16 Hulic 浅草桥大厦 2 楼,邮编 111-0053
点击此处查看地图

访问权限

  • JR总武线“浅草桥站(西口)”步行1分钟

  • 都营浅草线“浅草桥站(A3出口)”步行2分钟

 

*您无法从一楼办公室入口进入。请从室外楼梯或室外电梯到2楼。

参与费

免费

程序

 
时间 标题
摘要
扬声器
9:30~ 接待处
10:00~10:10 开场白
10:10~10:40 当我专注于损失的能量时,我发现了电子态
~使用 AES 的 REELS 基础知识~

俄歇电子能谱仪不仅可以对俄歇电子进行光谱分析,还可以对二次电子和背散射电子进行光谱分析。其中,利用反射电子的能量损失光谱(REELS)
在本讲座中,我们将介绍使用俄歇电子能谱仪 (JAMP-9510F) 进行 REELS 的最佳测量条件和注意事项,以及应用示例。
日本电子有限公司
SA 业务部门
SA技术开发部
池田希乃美
10:40~11:15 俄歇电子能谱分析润滑油反应膜化学键态的研究
俄歇电子能谱是一种允许在极端表面(几纳米)区域进行元素分析和化学键状态分析的方法。对于表面分析,XPS 通常被认为是分析化学键状态的方法,但俄歇电子能谱也可以测量和分析亚微米以下的微小区域,而这是 XPS 难以测量的。此外,XPS 根据峰位移估计化学键状态,而俄歇电子能谱根据峰形状估计,从而可以估计 XPS 难以区分的化学键状态。
这次,我们将介绍一个使用俄歇电子能谱分析润滑油反应膜中金属成分的化学键状态的示例。
出光兴产株式会社
辻瞳
11:15~11:45 对于那些在 XPS 波形分离方面遇到困难的人
~介绍使用固定参数进行波形分离的技巧~

使用 XPS 进行化学键状态分析时,通常会使用高斯-洛伦兹函数进行波形分离计算。
虽然它易于操作并且能够分析各种样品的化学键状态,但对于没有明显分裂峰的光谱,它可能会给出错误的结果。在本次演讲中,我们将使用JEOL的XPS软件SPECSURF来介绍一种利用参数值固定功能的波形分离计算方法,并结合实际示例。
日本电子有限公司
SA 业务部门
SA技术开发部
村谷直树
11:45~12:15 午餐
12:15~13:00 实机/海报展示
13:00~13:35 使用 EPMA 进行接触面分析的示例
我们的电子元件业务致力于解决社会问题,重点关注我们的核心连接和断开(开/关)技术。我们进行分析以提高继电器的接触可靠性,继电器是我们最具代表性的产品之一。
我们引入了各种设备来分析和开发接触技术,这对于稳定的电气连接非常重要。我们将介绍一个接触表面分析的示例,其中 EPMA 特别有效。
欧姆龙公司
德永洋子
13:35~14:10 EPMA在大陆地壳岩石岩石年代学研究中的应用实例
~ 微量元素测绘、微量元素温度计、CL 图像和锆石/独居石年龄的组合 ~

构成大陆地壳的变质岩记录了地球历史上反复发生的大陆碰撞和板块俯冲等地质事件。 EPMA 是破译岩石记录的重要工具。在本次讲座中,我们将讨论将矿物测年结果与岩石的温度和压力历史联系起来的地质研究方法,例如矿物微量元素绘图、利用矿物中微量元素浓度估算温度以及在测年中使用 CL 图像。
国立大学法人京都大学
先生川上哲夫
14:10~14:40 定量图中的新后台处理
~伪背景去除功能(PBS)介绍~

当使用电子探针显微分析仪获得背景(BG)校正图时,主要使用的方法是在峰和非峰位置进行测量并计算净X射线。
虽然此方法提供了高度准确的元素分布,但测量时间较长。
这次,我们开发了一种“伪背景去除功能(PBS)”,可以在不实际测量 BG 的情况下创建 BG 校正图。
我想介绍一下使用PBS的定量图和使用校准曲线法的浓度图之间的区别。
日本电子有限公司
SA 业务部门
SA技术开发部
胁本理惠
14:40~15:10 中断/实机/海报展示
15:10~15:45 神津岛黑曜石班车
~渡海的旧石器时代人~

神津岛是伊豆群岛之一,拥有大量黑曜石。旧石器时代晚期(约 38,000 年前)
明治大学黑关研究中心
池谷伸之
15:45~16:15 仪器分析基础知识和电镀应用示例
电镀是在材料表面涂覆一层金属薄膜,赋予材料不同于材料本身的装饰性、耐腐蚀性、电性能等性能的方法。电镀应用广泛,包括半导体等尖端领域。电镀质量的重要方面包括膜厚度、成分和无缺陷。在本次演讲中,我们使用各种仪器来观察和分析这些表明电镀质量的信息,并介绍结果。
日本电子有限公司
申请管理办公室
岛正秀
16:15~16:45 给 EPMA 初学者的一点建议
~分析前仔细检查!样品真的导电吗? 〜

电子探针微量分析仪 (EPMA)
日本电子有限公司
科学仪器服务部
服务策划推进总部
研发推广部
竹山南
16:45~16:55 结束语
16:55~18:00 社交聚会/实机/海报展示

*计划如有更改,恕不另行通知。感谢您提前的理解。

耗材优惠促销活动

我们将以 10% 的折扣挑选最畅销的消耗品。

活动期间:2023年11月24日(星期五)至2023年12月28日(星期四)

如何申请

申请截止日期已过,因此我们不再接受申请。

联系我们

日本电子有限公司
用户会议秘书处
电子邮件:jeolum[at]jeolcojp

  • 请将 [at] 更改为 @。
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