天游线路检测中心 第十六届 SEM 用户会议（东京）
发布日期：2023/05/11
今年的 SEM 用户大会将在该会场举行，并同步在线直播。
与往年一样，我们将提供涵盖各个领域的新技术和实用技术的有用信息，包括外部讲师。
此外，会场还将设有介绍JEOL各种产品的专区以及介绍支持公司产品的专区。
我们计划在讲座结束后举行一次社交聚会，因此我们希望您能够进行有意义的讨论，作为交流信息的场所。
这次用户会议是一个免费的研讨会，任何人都可以参加，不仅是使用我们设备的人，还包括使用其他公司设备的人和对设备感兴趣的人。
我们理解您可能很忙，但我们期待您的参与。
联系我们
- 作为新型冠状病毒感染的预防措施，根据未来的情况，保存方法可能会发生变化。感谢您的理解。
- 如果您勾选了“我想在会场参加”，请当天前往会场。当您来访时，我们会要求您在接待处给我们两张名片。对于给您带来的不便，我们深表歉意，但请您提前做好准备。
- 会议记录（小册子）将仅分发给参加活动的人员。
- 如果您想在线参与，请在活动结束后联系您的销售代表。
- 每场讲座的问题仅由出席会场的人员接受。
- 如果您在线参加，请在活动结束后填写调查问卷。
- 活动结束后，我们将无法下载任何分发的材料或在我们的网站上发布演示视频。
- 请注意，我们可能会拒绝同一行业的其他公司或机构的注册。
活动日期
2023 年 11 月 21 日星期二
申请截止日期
截至 2023 年 11 月 20 日（星期一）
地点
浅草桥Hulic Hall
东京都台东区浅草桥 1-22-16 Hulic 浅草桥大楼 2 楼，邮编 111-0053
点击此处查看地图
访问权限
JR总武线“浅草桥站（西口）”步行1分钟
都营浅草线“浅草桥站（A3出口）”步行2分钟
*您无法从一楼办公室入口进入。请从室外楼梯或室外电梯到2楼。
参与费
免费
程序
| 时间 | 标题摘要 | 扬声器 |
|---|---|---|
| 9:30～ | 接待处 | |
| 10:00～10:10 | 开场白 | |
| 10:10～10:40 | 推出新型 FIB-SEM JIB-PS500i 近年来，随着半导体器件复杂性的增加，需要在微小的目标位置生产高质量的 SEM/TEM 样品。为了满足这些要求，JIB-PS500i开发了“准确识别目标位置的SEM性能”、“最大限度地减少加工损伤的FIB性能”和“从加工到观察的平稳安全的操作性”。在本次演讲中，我们将介绍JIB-PS00i的特点和应用。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部中岛佑平 |
| 10:40～11:15 | 在微观层面“看到”地衣中的放射性铯~通过分析装置的组合实现微小面积分析~ 为了了解放射性铯的行为，澄清因东京电力福岛第一核电站事故而沉积在环境中的放射性铯的物理化学状态非常重要。在此，我们将介绍以地衣（与藻类共生的真菌的总称）为研究对象，结合电子显微镜等分析设备，在活体组织中“看到”放射性铯的案例，据称地衣可以长期保留放射性铯。 | 日本原子能机构先生土居辉美 |
| 11:15～11:45 | 适合SEM颗粒分析的样品分散方法介绍 粉末材料用于3D打印、电池材料、化妆品等各个领域，根据这些产品的特性管理尺寸和形状非常重要。当颗粒为μm至nm量级时，使用扫描电子显微镜（SEM）进行颗粒分析是有效的。在SEM颗粒分析中，将颗粒分散在基板上并进行测量，但如果颗粒重叠，则难以获得准确的粒径。因此，适当的颗粒分散对于精确测量非常重要。在本次讲座中，我们将介绍适用于每种粒径的 SEM 颗粒分析的分散方法的研究结果。 | 日本电子有限公司EP业务部EP申请部高山隼 |
| 11:45～12:15 | 午餐 | |
| 12:15～13:00 | 实机/海报展示 | |
| 13:00～13:30 | 好久不见！高质量！自动SEM测量的秘密 使用 SEM（扫描电子显微镜）自动测量软件可以让您在很长一段时间内执行自动测量，但要持续获取良好的数据，需要记住以下几点。我们将介绍为了长时间获取稳定数据应注意的要点、图像分析软件易于识别的数据获取方法以及使用Python的自由控制方法。 | 日本电子有限公司EP事业部EP申请部河野伦太郎 |
| 13:30～14:05 | 在数据机器人驱动科学中利用测量和分析设备的新方法~以新的研发方式加速研发~ 利用机器学习、机器人和数据的数据和机器人驱动的科学正在迅速发展。海外的流动速度非常快。我们将讨论测量和分析设备在这一浪潮中将如何改变，以及我们，研究人员和工程师，必须如何改变。此外，我想谈谈人力资源开发。 | 国立大学法人东京大学先生一杉太郎 |
| 14:05～14:35 | 使用最新模型对全固态电池进行原位观测和分析的案例研究～CP-SEM-EDS～ 在全固态电池的研发中，实时观察和分析充放电机制和劣化过程已成为为高效、可持续、碳中和社会做出贡献的必要技术。为了了解构成材料的行为和界面的特性，本次讲座将介绍以全固态电池负极材料为中心，使用可将脆性样品加工成光滑截面的“CrossSection Polisher™”、可进行高分辨率观察的FE-SEM“JSM-IT800”以及可分析Li的无窗EDS“Gather-X”等进行原位观察和分析的实例。 | 日本电子有限公司EP事业部EP技术开发部木村达人 |
| 日本电子有限公司EX 业务部门EX技术开发部柳原幸太 | ||
| 14:35～15:05 | 破图/实机/海报展示 | |
| 15:05～15:40 | 定量 SEM 图像评估的尝试以及在低加速电压下使用 EDS 的示例 使用超低加速电压FE-SEM JSM-IT800i，介绍硬盘部件SEM图像对比度的定量评估以及低加速电压下EDS低能X射线检测的应用实例。 | 西部数据技术有限责任公司先生松村纯弘 |
| 15:40～16:10 | 增加信号量的技术~获得明亮且易于观察的SEM图像~ 您是否曾发现图像较暗且难以对焦，或者需要很长时间才能找到目标区域？您也许可以通过一些技巧来改善您的问题。使用扫描电子显微镜时，根据样品形状、预处理、观察条件等，信号量可能较低，观察可能会困难。在本演讲中，我们将介绍增加信号量并使 SEM 观察更容易的技术。 | 日本电子有限公司科学仪器服务部服务策划推广总部研发推广部八幡艾丽卡 |
| 16:10～16:20 | 结束语 | |
| 16:20～17:30 | 社交聚会/实机/海报展示 |
*计划如有更改，恕不另行通知。感谢您提前的理解。
耗材优惠促销活动
我们将以 10% 的折扣挑选最畅销的消耗品。
活动期间：202311 月 24 日（星期五）- 12 月 28 日（星期四）
如何申请
申请截止日期已过，因此我们不再接受申请。
联系我们
日本电子有限公司用户会议秘书处电子邮件：jeolum[at]jeolcojp
- 请将[at]更改为@。
