天游线路检测中心 透射电子显微镜颗粒分析的自动测量功能
发布日期：2023/07/19
颗粒分析是一种测量颗粒和颗粒聚集体的形状、尺寸和化学成分的方法。
扫描电子显微镜主要用于使用电子显微镜进行颗粒分析，但当颗粒尺寸为几微米或更小时，透射电子显微镜（TEM）是有用的。
然而，对于 TEM，一次可观察的视场很小，因此多个视场的测量至关重要。
在本次网络研讨会中，我们将介绍使用自动多视图连续观察功能使用 TEM 进行颗粒分析的测量示例和分析方法。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
关于粒子分析
透射电子显微镜颗粒分析的应用
SIF自动驾驶仪和多图像工具在颗粒分析中的应用示例
想要参与的客户
经常进行颗粒分析但从未使用过电子显微镜的人
那些使用SEM进行颗粒分析并感觉空间分辨率不够的人
对于那些对透射电子显微镜的自动测量功能感兴趣的人
扬声器
岛正英
EM 业务部EM应用部
日期/详细信息
2023年8月18日（周五）16:00-17:00
讲座结束后将有时间进行问答。
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演示材料
您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。
参与费
免费（申请按照先到先得的原则进行。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。
该视频现已发布，请在下面申请。
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视频
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