天游线路检测中心 2023年表面分析实践课程练习！最新扫描电子显微镜实践：通过实际工作学习最新技术
发布日期：2023/05/25
*感谢您的积极反馈。
扫描电子显微镜 (SEM) 技术的最新进展令人瞩目，不仅可以观察形状，还可以使用各种探测器进行广泛的分析。
在本课程中，我们假设您具有 SEM 经验。基础知识和应用讲座结束后，我们将在专家的指导下使用最新的实际设备参加实践培训。通过这次体验，您将加深对原理的理解，并获得可以有效应用的操作技巧。
实训的目的是通过实践学习如何使用各种探测器、低加速电压观察和分析，甚至样品截面的制备。
如果您想获得更高水平的SEM操作技术，我们期待您的参与。
赞助商：日本表面真空学会、公益社团法人
日期/地点
日期：
2023 年 8 月 9 日星期三、2023 年 8 月 10 日星期四
地点：
JEOL 有限公司开发馆
东京都昭岛市武藏野 3-1-2 196-8558地图
访问：
JR青梅线，从中神站北口步行约10分钟，从立川站北口乘坐出租车约15分钟
参会费/名额
学费：
付费（请参阅会议网站）
容量：
18 人（满员后即停止营业）
“SEM应用实践课程”项目
8 月 9 日（星期三）<培训>
| 13:30-14:30 | 用高分辨率扫描电子显微镜观察到的纳米多孔材料讲师：Akira Endo（日本产业技术综合研究所） |
|---|---|
| 14:30-15:00 | SEM 的基本原理讲师：浅野夏子（日本电子株式会社） |
| 15:15-15:45 | 电磁场叠加型SEM检测器讲师：朝比奈俊介（日本电子株式会社） |
| 15:45-16:15 | 使用低加速度电子进行高分辨率测量讲师：高见精一（名古屋大学） |
| 16:15-16:45 | 使用 Ar 离子束进行 SEM 横截面样品制备讲师：大本玉江（日本电子株式会社） |
| 16:45-17:00 | 问答 |
8月10日（星期四）<实践>讲师：JEOL SEM应用工程师
| 9:30-12:30 | 设备培训（W-SEM 或 FE-SEM） |
|---|---|
| 13:30-16:30 | 设备培训（FE -SEM 或 W-SEM） |
| 16:30-17:00 | 一般性讨论 |
实用内容
在实训中，每组最多分为三人，在专家的指导下实际操作W-SEM和FE-SEM。
W-SEM（低真空SEM）：低真空和高真空（非蒸发和蒸发之间的差异）/元素分析
FE-SEM（高分辨率SEM）：低加速电压、高分辨率观察、每个探测器的图像解释
也欢迎参与者自带样品。因此，如果您有想要当天观察的样品，请提前提交有关样品信息的调查问卷。请在申请参与时或稍后提交调查。
联系我们
表面分析实践课程秘书处电子邮件：office[at]jvssjp
- 请将上面的 [at] 替换为 @
