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天游线路检测中心 CP内幕消息!短时间处理的技巧

Release date: 2023/03/31

CP(横截面抛光机™)被广泛用作SEM的横截面准备装置。近年来,CP已开始用于确认电子元件的层结构和控制接头质量等,并且需要在短时间内有效地制备横截面样品。在本次网络研讨会中,我们将重点介绍预处理方法和处理条件,并介绍使用 CP 进行短时处理的实际示例和基本要点。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

  • 氩离子截面制样装置(CP)原理

  • 短时间加工的CP预处理要点

  • 短时间加工的CP加工要点

想要参与的客户

  • 分析样本内部的人员

  • 对于使用 CP 或 FIB 的用户

  • 需要短时间CP处理的人

扬声器

大本玉惠

EP申请部
SEM集团
第三队

日期/详细信息

  • 2023年4月28日(周五)16:00-17:00

  • 讲座结束后将有时间进行问答。

相关产品

横截面样品制备装置(CP)

扫描电子显微镜 (SEM)

电子探针微量分析仪 (EPMA)

螺旋微探针(螺旋)

聚焦离子束加工和观察装置(FIB)

演示材料

您可以在讲座结束后填写调查问卷来下载。

Participation fee

免费(按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。)

如何申请

网络研讨会已经结束。

我们正在发布该视频,因此请在下面申请。

联系我们

日本电子有限公司
需求促进总部网络研讨会秘书处
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。

视频

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