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天游线路检测中心 如何对非导电样品进行 SEM 观察

发布日期:2023/02/17

使用扫描电子显微镜(SEM),如果直接观察非导电样品,就会带电(充电),因此必须采取防止带电的对策。但目前的情况是,很多人担心自己不知道如何区分静电荷,即使采取措施也无法抑制静电荷。
在本次网络研讨会中,我们将介绍处理静电时应注意的要点,重点介绍如何区分静电以及采样和测量条件。

本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络,您不仅可以通过计算机参与,还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。

您可以从本次网络研讨会中学到什么

  • 如何识别静电电荷

  • 处理静电时的注意事项

  • 如何对非导电样品进行 SEM 观察

想要参与的客户

  • 对于那些已经开始使用 SEM 的人

  • 对于那些使用 SEM 观察非导电样品的人

  • 对于那些想了解抗静电措施的人

扬声器

松本雄太

EP业务部
EP申请部
SEM集团
第一队

日期/详细信息

  • 2023年3月31日(星期五)16:00-17:00

  • 讲座结束后将有时间进行问答。

相关产品

扫描电子显微镜 (SEM)

演示材料

  • 讲座结束后填写调查问卷即可下载。

参与费

免费(按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。)

如何申请

网络研讨会已结束。

联系我们

日本电子有限公司
需求促进总部网络研讨会秘书处
sales1[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。
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