天游线路检测中心 X 射线显微 CT 基础与实践
发布日期：2020/06/23
X射线CT的优点是能够无损地可视化内部结构，而这些结构是通过使用光学显微镜、扫描电子显微镜等从样品表面观察形态而难以理解的。
在本次研讨会中，我们将介绍基本内容，重点关注实际可以获得什么样的2D/3D图像，以及通过广域/局部区域图像分析获得的材料结构厚度、缺陷状态、粒度分布、孔隙率等定量结构评估的实例。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。
我们期待您的参与。
赞助商：日本电子株式会社
日期/详细信息
- 日期：
2020年8月28日（周五）16:00-16:30
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参会费/名额
- 参与费用：
免费 - 容量：
200人
*接待将按照先到先得的原则进行。请尽早申请。
如何申请
*了解如何注册和参与的详细信息点击此处(PDF 955KB)。
*预分发材料将仅发送给那些在网络研讨会当天上午之前注册参加的人员。请注意，如果您在此时间之后注册，材料将在研讨会结束后分发。
*请注意，我们可能会拒绝参赛者的注册。
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