天游线路检测中心 第 42 届分析仪器 MS 用户会议(在线)~以定性分析、物质分析、未知物质分析为主~
我们每年都会举办“MS 用户会议”,作为与质谱仪用户直接会面并听取他们的意见以及用户之间交换信息的场所。但是,今年,为了防止新型冠状病毒的传播,并优先考虑客户和员工的健康和安全,我们将在网上举行会议。由于活动将在网上举行,我们将会议分为两场,重点讨论“定性分析”和“定量分析”两类内容。活动当天,我们将进行现场演示并现场回答问题,欢迎您前来参加。这次用户会议是一个免费的研讨会,任何人都可以参加,不仅是使用我们设备的人,还包括使用其他公司设备的人和对设备感兴趣的人。我们期待您的参与。
网络研讨会发布期于 2021 年 3 月 31 日星期三结束。
程序
| 时间 | 标题表演者 |
|---|---|
| 13:30~13:35 | 开场白天游线路检测中心 MS 业务部门主管 Yoshihisa Ueda |
| 13:35~14:05 | 使用过热蒸汽的陶瓷成型体的高速脱脂〜使用TG-MS分析树脂分解行为〜先生和田正史,精密陶瓷中心综合财团 |
| 14:05~14:35 | 利用FD电离法对聚合物添加剂进行定性分析Denka Corporation先端技术研究所结构性能研究部金子刚 |
| 14:35~14:55 | 追求终极 GC-MSJEOL 有限公司 MS 业务部 MS 技术开发部 Masahiro Ito |
| 14:55~15:10 | 支持公司提供的信息 |
| 15:10~15:40 | 使用热解 GC-MS 分析环境中的微塑料名古屋工业大学工学研究生院流地区教授 Hajime Otani |
| 15:40~16:00 | 使用质谱分析由于紫外线照射引起的聚合物降解天游线路检测中心 MS 业务部 MS 应用部 Takaya Sato |
| 16:00~17:00 | WEB混音器,如有任何问题请联系我们! ! |
详情
使用过热蒸汽对陶瓷成型体进行高速脱脂~利用TG-MS分析树脂分解行为~
2020年12月17日(星期四)13:35-14:05
MS_1
在陶瓷生产中,混合有机成型助剂,以便将原料粉末成型为预定形状,但极其重要的技术挑战之一是提高后续工序(脱脂工序)的效率(高速、短时间加工)以去除成型助剂(这对最终产品来说是不需要的)。我们正在开发一种使用过热蒸汽(加热到沸点以上的干蒸汽)的高速脱脂技术。我们将概述该技术,并报告基于使用TG-MS的树脂分解行为分析结果所研究的高速脱脂机理。
讲师先生和田正志
精细陶瓷中心综合基金会
使用FD电离法对聚合物添加剂进行定性分析
2020年12月17日(星期四)14:05-14:35
MS_2
为了稳定化和高功能性,在高分子材料中添加各种添加剂。对于通过毛细管柱进行 GC-MS 的附加分析,m/z=500,如果质量数高于此,则难以将其导入质谱仪。 FD电离方法直接在离子源内电离目标成分,从而可以分析高分子量的添加剂。
在本次 MS 用户会议上,我们将从我们的分析示例中介绍使用 FD 电离方法的加性分析。
讲师先生金子刚
电化有限公司先进技术研究院结构性能研究部
追求终极 GC-MS
2020年12月17日(星期四)14:35-14:55
MS_3
除了各种常规电离方法外,我们还将介绍使用GC-MS的最新定性分析解决方案,该解决方案配备了新开发的离子光学系统,性能显着提高。
讲师伊藤正宏
日本电子有限公司微软业务部MS技术开发部
支持公司提供的信息
2020年12月17日(星期四)14:55-15:10
合作伙伴
使用热解 GC-MS 分析环境中的微塑料
2020年12月17日(星期四)15:10-15:40
MS_4
近年来,海洋塑料垃圾问题突然成为人们关注的焦点,对环境中的微塑料(MP)进行分析对于解决该问题至关重要。热解 GC-MS 作为一种适用于微塑料分析的方法正在重新引起人们的关注,因为它甚至可以高灵敏度地分析极少量的聚合物样品,并且不易受到共存污染物的影响。在本次讲座中,我们将概述使用热解GC-MS进行MP分析的最新状况,并介绍演讲者与之相关的基础研究内容。
讲师大谷肇教授
名古屋工业大学工学研究生院流地区
使用质谱分析由于紫外线照射引起的聚合物降解
2020年12月17日(星期四)15:40-16:00
MS_5
人们担心聚合物材料会因光、氧、热等的影响而劣化,评估所发生的结构变化极其重要。热解 GC-MS 和 MALDI-TOFMS 是分析聚合物分子级结构变化的强大工具。在本次演示中,我们将报告从这两种设备获得的信息以及它们之间关于紫外线照射降解聚合物的相关性。
讲师佐藤贵也
日本电子有限公司微软业务部MS应用部
技术数据
应用说明
JMS-T200GC AccuTOF™ GCx-plus 高性能气相色谱仪飞行时间质谱仪
JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪
目录
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