天游线路检测中心 2020 年第 68 届质谱大会

聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜因紫外线照射而降解
成像质谱与其他分析方法之间的相关性

高质量分辨率 MALDI-TOFMS 有助于根据重复单元和端基组成的差异识别聚合物系列。
使用 MALDI-TOFMS 的质谱成像 (MSI) 可以可视化样品表面聚合物的局部信息，但其应用示例仍然很少。在本报告中，我们研究了将成像质谱法应用于具有优异耐光性的聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）的紫外线诱导降解分析的条件。
我们还检查了与常见聚合物分析方法的相关性，例如显微傅里叶变换红外分光光度计（显微 FT-IR）和热解气相色谱-质谱仪（GC-MS），以及扫描电子显微镜（SEM）的形态信息。

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来自关注峰形的高分辨率质谱
噪声峰值去除方法的研究

高分辨率 MALDI-TOFMS 可以根据重复单元和端基组成以及离子强度分布轻松识别聚合物系列。
Kendrick 质量缺陷 (KMD) 方法从质谱中提取峰并将其展开为 KMD 图。因此，有效地从质谱中提取待分析的峰非常重要。换句话说，区分感兴趣的峰值和噪声峰值很重要。
在本报告中，我们尝试使用关注峰形状的监督机器学习（生成模型：条件生成对抗网络）来识别要分析的峰和噪声峰。我们还将报告有效学习的方法。

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使用GC/EI和软电离方法II的综合分析方法的开发

GC/MS 中经常使用的电子电离 (EI) 是一种产生碎片离子的硬电离方法。质谱反映了化合物的特征，通过与NIST等库中注册的质谱进行比较，可以识别已知化合物。
另一方面，对于未在库中注册的未知化合物，由于没有比较的目标，无法获得正确的鉴定结果。因此，我们开发了一种综合分析方法，通过结合易于观察分子离子的场电离（FI）等软电离方法和EI方法以及精确的质量信息来缩小分子组成式候选范围，并在之前的讨论中进行了报告。
现在，为了扩展这种分析方法，我们开发了一种称为“组分析”的方法，该方法使用碎片离子或中性损失作为指标来提取具有相似结构、异构体等的化合物组。我们将报告将该方法应用于模型样品的测量结果并验证其实用性。

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使用 TG-MS 进行负离子测量
使用 TG-MS 进行负离子测量

使用 TG/MS（热重/质谱）的逸出气体分析 (EGA) 被广泛用作材料的热物理性质分析方法。
在质谱分析中，使用正电离和负电离测量的MS光谱的比较分析被用作重要的结构分析方法。
另一方面，TG和MS都是分析质量（重量）的装置，但由于其目的、原理、功能和结构不同，当与TG-MS联用时，由于各种限制，CI（化学电离）测量很困难，并且也无法进行使用NICI的负离子测量。
我们通过优化TG-MS系统建立了稳定的负离子测量技术。

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