天游线路检测中心 第79届日本显微镜学会学术会议

我们将参加第79届日本显微镜学会学术会议，该会议将于6月25日（周日）至6月28日（周三）在国引展览馆举行。
学术讲座和赞助研讨会仅向注册参与者开放，但任何人都可以参加显微镜体验研讨会、公司展览和午餐研讨会。

• 仅显微镜体验工作坊需要预先注册

我们期待您的光临

日期/地点

• 日期：
  2023 年 6 月 25 日星期日至 2023 年 6 月 28 日星期三

• 地点：
  国引展览馆
  岛根县松江市学园南 1-2-1 690-0826Map

显微镜体验工作坊

• 日期：
  6月25日（周日）15:00-16:30

• Location:
  国引展览馆 1 楼小厅（C 馆）

• Capacity:
  60 人
  

• 小学生必须有监护人陪同。

“发现！探索！微观世界”

使用任何人都可以使用的 JEOL 扫描电子显微镜 NeoScope™ 探索微观世界的美丽结构和功能！远征！让我们。
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企业展览

我们将展示实际的机器演示和应用面板。
地点：国引展览馆1楼大展厅

• 6 月 26 日星期一 9:00-17:30

• 6月27日（星期二）9:00-17:30

• 6 月 28 日星期三 9:00-14:30

午餐研讨会

6月26日（周一）12:00-12:50

地点：国引展览馆3楼国际会议厅（D馆）

①“推出新型 FIB-SEM JIB-PS500i，可实现轻松的 TEM 样品传输”

• Speaker:
  角井美澄

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部

②“频闪场发射电子光源超快时间分辨TEM的特点和应用”
“基于频闪场发射器的超快 TEM：仪器和应用”

• 演讲者：
  博士。阿明·费斯特

• 隶属关系：
  马克斯·普朗克多学科科学研究所和德国格奥尔格·奥古斯特·哥廷根大学

6月27日（星期二）12:00-12:50

地点：国引展览馆 3FInternational Conference Center (D地点)

①“隆重推出配备新一代样品制备解决方案的新型 FIB-SEM JIB-PS500i”

• 演讲者：
  角井美澄

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部

②“抑制样品劣化！～使用冷却台的最新SEM观察和分析～”

• Speaker:
  山本康明

• 隶属关系：
  天游线路检测中心 EP 业务部

皇冠工坊

• 日期：
  6月27日（星期二）17:00-17:30

• 地点：国引展览馆 3 楼国际会议厅（D 会场）

① "Femtosecond mapping of nanoscale strain and optical field using scanning ultrafast-TEM"
“扫描超快 TEM 中纳米级应变和光场的飞秒测绘”

• 演讲者：
  博士。阿明·费斯特

• 隶属关系：
  马克斯·普朗克多学科科学研究所和德国格奥尔格·奥古斯特·哥廷根大学

② “Dynamic TEM: Nanosecond in-situ measurement of irreversible processes”
“动态 TEM：不可逆过程的纳秒级原位测量”

• 演讲者：
  博士。布莱恩·里德

• 隶属关系：
  集成动态电子解决方案有限公司

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