天游线路检测中心 海外开放创新美国：伊利诺伊大学
大学概况
2012 年交付了配备像差校正功能的原子分辨率透射电子显微镜，可实现尖端材料研究所需的 Z 衬度成像和能量损失光谱等分析。此外，通过使用加热的样品台并对复合材料和生物样品施加热量，可以实现“原位观察”。博士。领导这项研究的罗伯特·克里斯（Robert Creese）专注于超导氧化物和硼化物中的缺陷和界面结构、半导体氧化物中的异质结构以及异质催化系统。其他研究人员正在研究纳米管、中空纳米纤维、嵌入有机薄膜中的半导体纳米颗粒、发生在矿泉水界面的地球化学过程、矿物纳米颗粒的成核和生长以及催化元素。
JEOL 和大学概述
芝加哥伊利诺伊大学拥有配备 CFE 电子枪 ARM200F 的像差校正 S/TEM，在原子分辨率研究中发挥着核心作用。现在可以以高分辨率看到原子结构，并有望改善与能源相关的研究。该设备还安装在环境优化的安装室中，配有水冷辐射板系统。
产品列表
JEM-ARM200CF
JEM-3010
JSM-6320F
图片库
