引入联动天游ty8检测中心，方便非曝光观察和分析
IB2025-02
简介
电池材料等高活性材料的观察和分析需要不与大气或湿气接触的系统。根据分析目的，有时需要进行截面加工（CP）、截面观察（SEM）、薄片加工（FIB）、显微组织观察（TEM）等跨多个装置进行分析，并且需要在不使样品暴露的情况下小心地将样品转移到每个分析装置的天游ty8检测中心上。
该系统将透射电子显微镜 (TEM) 的接头部件（梭保持器 3）合并到 CP/SEM/FIB 和 TEM 的非曝光天游ty8检测中心中，减少了镊子的工作量，使一系列操作变得更加容易。
非大气暴露环境下的样品制备流程
这显示了在不暴露于大气的环境中从使用 CP 进行横截面样品制备到通过 FIB 进行 TEM 样品制备的样品制备流程。
此工作流程使用 CP-FIB 通用转移容器来最大限度地减少手套箱中的工作。由于 CP 可以直接转移到 FIB-SEM，因此通过 CP 处理平滑样品内部并从横截面选择 TEM 样品位置，可以实现平滑的 FIB 处理。
传统问题
需要将包含 TEM 样品的 FIB 网格（半月形 TEM 网格）从 CP-FIB 共用转移容器转移到手套箱中的滑盖天游ty8检测中心。这项工作存在样品损坏的风险，并且需要最高的技能。
在手套箱中使用镊子将大约 3 mm 的 FIB 网格固定到载玻片天游ty8检测中心上是极其困难的，可以说这项工作极有可能损坏经过许多步骤制备的 TEM 样品。
联动天游ty8检测中心
转移容器中内置有穿梭固定器 3，以便轻松地将 TEM 样品重新装载到手套箱中，而不会损坏样品。提供两个连杆天游ty8检测中心以适应不同的应用。
CP-FIB 通用转运容器
这是CP-FIB通用转移容器，其中可以安装用于CP处理的样品基材和梭保持器3。从 CP 样品制备到通过 FIB 进行 TEM 样品制备，无需使用手套箱即可完成。
用于 TEM 样品制备的转移容器
这是用于 TEM 样品制备的转移容器，与不需要 CP 样品制备的样品兼容。可以同时安装样品基材和梭保持器3。
梭固定器 3
FIB网格附着方法
梭保持器3是连接FIB网格的部分。预先将 FIB 网格连接到梭固定器 3 上，并将其设置在连杆天游ty8检测中心中。由于梭保持器3可以附接至TEM天游ty8检测中心，因此在手套箱中进行TEM样品制备之后无需直接处理FIB网格。
与梭子固定器 3 兼容的载玻片天游ty8检测中心
滑盖天游ty8检测中心具有通过滑动尖端将样品存储和密封在天游ty8检测中心手柄内的气密室中来保护样品免受外部空气影响的功能。
只需轻轻一按即可将梭子固定器 3 安装到滑盖天游ty8检测中心上。只需更换梭固定器 3，即可将使用 FIB 制备的 TEM 样品轻松安装在 TEM 天游ty8检测中心上。
摘要
借助新型 CP-FIB 通用转移容器和穿梭固定器 3，从 CP 处理到 TEM 样品制备的所有操作都可以在通用天游ty8检测中心内进行。
TEM 样品制备后无需直接处理 FIB 网格，降低了样品损坏的风险。
只需轻轻一按即可将梭子固定器 3 连接到载玻片天游ty8检测中心上，从而轻松将样品运送到 TEM。
