ty8天游线路检测中心缺陷区域的 CLEM 分析
EM2023-01
简介
即使ty8天游线路检测中心肉眼看起来均匀，但在荧光显微镜下观察时，可以看到存在比其他区域更强的自发荧光。这在紫外线激发的蓝色荧光中尤其明显，但光学显微镜 (LM) 的分辨率不允许我们阐明原因。因此，我们制作了ty8天游线路检测中心的超薄切片，以便使用更高分辨率的透射电子显微镜（TEM）进行观察。使用 SiN 窗口芯片进行片上 CLEM ty8天游线路检测中心来识别和高分辨率ty8天游线路检测中心荧光激发位点。
SiN 窗口芯片
SiN 窗口芯片（图 1）是一种采用高强度 SiN 薄膜的 TEM 样品台。它消除了一般 TEM 网格中出现的条带造成的视场切割，非常适合广域ty8天游线路检测中心和连续截面ty8天游线路检测中心。它还具有耐化学性，因此可以直接染色。使用光学显微镜ty8天游线路检测中心支架可以轻松进行相关光电子显微镜 (CLEM)（图 2）。
图1 SiN窗口芯片的外观(a) 完整 (b) 恢复超薄切片
图 2 SiN 窗口芯片入门套件（P/N 783131836）(a) 专用固定器 (b) 带专用固定器的芯片安装夹具 (c) 用于光学显微镜ty8天游线路检测中心的支架
特殊的固定器可以设置在光学显微镜ty8天游线路检测中心支架中，无论是正面还是背面，因此它可以与正置和倒置显微镜一起使用（图3）。
图 3 在光学显微镜中的使用示例(a) 使用正置显微镜ty8天游线路检测中心时 (b) 使用倒置显微镜ty8天游线路检测中心时
片上 CLEM ty8天游线路检测中心
片上 CLEM ty8天游线路检测中心是一种使用 LM 和 TEM ty8天游线路检测中心 SiN 窗口芯片上超薄切片的方法。具体ty8天游线路检测中心流程如图4所示。
[步骤]
- ty8天游线路检测中心嵌入树脂中，超薄切片收集在 SiN 窗口芯片中。
- 1 SiN 窗口芯片放入专用固定器中。
- 2的固定器安装到LMty8天游线路检测中心支架中，并进行LMty8天游线路检测中心（UV激发蓝色荧光ty8天游线路检测中心）。
- 将步骤 2 中的固定器放入 TEM 支架中并进行 TEM ty8天游线路检测中心。
- 叠加 LM 和 TEM 图像以ty8天游线路检测中心目标结构 (LLP-CLEM※)。
※LLP-CLEM
无限全景的功能之一。只需点击LM图像和TEM图像上的三个公共点即可完成图像叠加。
图 4 片上 CLEM 流程
TEMty8天游线路检测中心的结果如图5所示。CLEMty8天游线路检测中心的结果发现，在自发荧光较强的区域中，(1)混入了异物，(2)形成了空隙。通过以这种方式进行 CLEM ty8天游线路检测中心，可以评估仅通过 LM ty8天游线路检测中心无法确定的材料的质量。
图5缺陷区域的微观结构ty8天游线路检测中心
