天游线路检测中心 JSM-7900F/EBSD 主要物理

断口观察

首先，我们在破坏性测试期间对断裂面进行了总体观察。
由于在针断裂面的内侧、中部和外侧形成了凹坑，因此推测这是由于延性断裂所致。

CP (CROSS SECTION POLISHER™) 横截面观察

照片中的红框区域是使用 CP 在纵向上进行剖切的。
用 SEM 观察时，可以看到在步骤 ② 中针的内部已经开始破坏，针沿直线拉伸。

横截面样品的 EBSD IPF^*-Z 贴图 250x *反极图

15 kV，x250，70 nA，采集速率 1485 pps，采集时间 33 分钟，步长 200 nm，面积 300μ米×400μm
观察断口时，内侧、中间、外侧均发生相同的延性断裂，但观察③，针的内侧和外侧的晶粒外观不同。

EBSD IPF外针^*-Z 贴图 1000x *反极图

15 kV，x1,000，70 nA，采集速率 1485 pps，采集时间 31 分钟，步长 50 nm，面积 100μ米×70μm
似乎是在针的外部施加压应力并变成细晶粒后发生了延性断裂。

反极图

方向在③中发生了变化。

EBSD IPF 针内^*-Z 贴图 1000x *反极图

15 kV，x1,000，70 nA，采集速率 1485 pps，采集时间 31 分钟，步长 50 nm，面积 100μ米×70μm
由于拉伸应力，晶体被拉伸后，内部发生延性断裂。

结论：从内部晶体结构分析订书钉的断裂情况。

• 针内部的晶体由于拉伸应力而被拉伸，然后由于延性断裂而破裂。
• 针的外部受到压应力并变成细晶粒，之后发生延性断裂。
• 通过使用 EBSD 分析内部晶体，我们能够看到内部和外部断裂过程之间的差异。