天游线路检测中心 TEM 断层扫描的支柱样品制备
IB2019-12
TEM 断层扫描是一种以纳米级空间分辨率分析样品内部三维信息的方法。对于普通TEM观察中使用的平板样品，倾斜角度受到限制，因为当样品明显倾斜时，样品的厚度会增加，电子束无法通过它。然而，通过将样本制成柱状（圆筒），即使倾斜角度改变，样本的厚度也不会改变，并且可以从整个圆周投影，从而可以获得信息损失较少的三维重建图像。
针型特殊保持器※选项
可与JIB-4000PLUS和TEM通用的针型特殊保持器。通过在针尖处制作柱状样品，可以进行大倾斜的 TEM 观察。针型专用固定器可以安装在普通样品架上。
针型特殊保持器
针式专用保持器和普通样品架用于 TEM 断层扫描的 ABC 三嵌段三元共聚物样品的制备
制备了ABC三嵌段三元共聚物的柱状样品。为了精加工，我们使用位图处理系统*将其塑造成圆柱形。TEM断层扫描结果证实该聚合物具有三相双连续双金刚石网络结构[1]。
样品制备
使用FIB从样品基材切出样品片，拾取并安装到针型特殊支架的尖端。之后，我们将其加工成柱状，以制作用于 TEM 断层扫描的样品。
准备好的柱状样品
形状示例直径：约。 300纳米长度：约。 4μm
资料提供：名古屋大学副教授 Atsushi Takano
TEM 断层扫描
测量条件- 设备：JEM-2100Plus
- 加速电压：200kV
- TEM 放大倍数：×50,000
- 倾斜角度范围：-82 至 82°
- 角度步长：1°
[1] Yusuke Asai、Jiro Suzuki、Yoshitaka Aoyama、Hideo Nishioka、Atsushi Takano、Yushu Matsushita，“ABC 三嵌段三元共聚物二元共混物的三连续双金刚石网络结构”，大分子, 50，14 (2017) 第 5402–5411 页。
