天游web原生态手机端中和枪和样品偏压应用程序的 XPS 中的绝缘体分析方法 JEOL 技术信息

XPS 天游web原生态手机端 X 射线作为激发源，因此与天游web原生态手机端电子束的设备（例如俄歇电子能谱 (AES)）相比，它不易受静电荷的影响。因此，XPS 是一种可以测量从金属到绝缘体等多种物体的分析方法。然而，从XPS的特征即化学键状态分析的角度来看，带电现象阻碍了高精度分析，需要在测量时消除带电的影响。

这次，我想介绍一下我们如何通过天游web原生态手机端中和枪并对样品施加正偏压来抑制峰形的扭曲。