天游线路检测中心 使用中和枪和样品偏压应用程序的 XPS 中的绝缘体分析方法 JEOL 技术信息

XPS 使用 X 射线作为激发源，因此与使用电子束的设备（例如俄歇电子能谱 (AES)）相比，它不易受静电荷的影响。因此，XPS 是一种可以测量从金属到绝缘体等多种物体的分析方法。然而，从XPS的特征即化学键状态分析的角度来看，带电现象阻碍了高精度分析，需要在测量时消除带电的影响。

这次，我想介绍一下我们如何通过使用中和枪并对样品施加正偏压来抑制峰形的扭曲。