天游线路检测中心 使用直接引入探针进行快速定性分析

JMS-Q1500GC 附件之一是专用的直接引入探头。当使用直接引入探针确认合成化合物的分子量或测量难以引入GC的样品（例如高沸点化合物）时，无需预处理且分析时间短。
JMS-Q1500GC 的直接引入探头包括灯丝型 F：DEP（直接暴露探头）和毛细管型 C：DIP（直接插入探头），根据待测物质的性质和测量目的进行选择。

直接引入探针

将直接引入室和法兰安装到 JMS-Q1500GC 并将探针从法兰引入 MS 离子源，可以轻松使用直接引入探针。

图1 JMS-Q1500GC，带直插式探头

图2 直接插入探头/F（直接暴露探头：DEP）

图3 直插式探头/C（直插式探头：DIP）

长丝类型 F：DEP

DEP 的尖端有一根铂丝，施加到丝上的样品通过在离子源内部通过电流而汽化。
预先制备样品溶液，并用注射器将其涂抹到铂丝的尖端。灯丝可瞬间通过高达1000mA的电流，可用于高沸点化合物和热不稳定化合物。

0 至 1000mA
可将电流提高至2560mA/min

C 型毛细管：DIP

DIP只需将样品放入直径16毫米的一次性毛细管中即可测量，并且样品的形状无关紧要，因此可以对固体和液体进行测量。测量温度可在短短 2 分钟内从室温升至 500°C。

从室温到500°C
温度可升至 256°C/min

测量条件和结果

金属钝化剂Irganox MD 1024（BASF制造）使用DEP和DIP方法进行测量。测量条件如下所示，测量结果如图4所示。
它是一种沸点为6526°C的物质，但可以通过DEP或DIP进行测量，并且可以通过使用获得的EI光谱搜索NIST库来推断其结构。

• 测量条件：
  ·测量模式：扫描(m/z 45-600)
  ·实际周期时间：566514 ms

• 测量速率
  ·DEP: 10mA → 640mA/min → 1000mA
  ·DIP: 50°C → 128°C/min → 500°C (1min)

图4 Irganox MD 1024 (DEP, DIP)的质谱

摘要

• 通过使用直接引入探针，即使对于难以引入GC的化合物也可以在短时间内轻松获得质谱，并且还可以通过搜索数据库进行定性分析。
• 直接引入探针有两种类型：DEP和DIP，每种都具有以下特点，应根据待测化合物的性质和测量目的进行选择。

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