原位观察支架可以对 TEM 内部的纳米结构进行电气和机械探索，并且可以针对动态过程的研究进行优化。它简化了物体的表征、探索和成像，以及以亚纳米精度将探针放置和对准纳米结构的导电、半导体或绝缘区域。
功能
STM-TEM STM原位观察支架
安装在 TEM 样品架中的 STM 功能允许您以亚纳米精度测量纳米结构上特定位置的电特性。除了偏置调制之外，它还可以进行STM图像、STS接触电流测量、电场频谱分析等测量。
TEM-AFM AFM原位观察支架
TEM-AFM 是安装在 TEM 支架中的完整 AFM。使用 TEM-AFM 为原子力测量提供了新的维度。
规格/选项
STM-TM™ 规格
| 最大电流范围 | 0-5mA |
|---|---|
| 样本大小-标准网格 | 3mmφ |
| 扫描范围 | 25·N×25·N |
| 粗移范围(X,Y) | (2毫米，2毫米) |
| 压电分辨率 X,Y | 002nm |
| 压电分辨率 Z | 00025nm |
| 最大偏差范围 | ±10V |
| 样品尺寸-线长度 | 025毫米 |
| Z 范围 | 25·N |
| 粗调范围 | 2毫米 |
工作模式：接触、隧道、场发射（偏置±140V）
支架适合所有 TEM 型号
外观和规格可能会因改进等而发生变化。
TEM-AFM™ 规格
| 可移动负载范围 | 0～2000nN |
|---|---|
| 样本大小-标准网格 | 3mmφ |
| 扫描范围 | 25μm×25μm |
| 粗移范围(X,Y) | (2毫米，2毫米) |
| 压电分辨率 X,Y | 002nm |
| 压电分辨率 Z | 00025nm |
| 力敏感度 | 10nN |
| 样品尺寸-线径 | 025毫米 |
| Z 范围 | 25μm |
| 粗动范围(Z) | 2毫米 |
AFM测量模式：接触模式
AFM横向分辨率：15nm或更小
支架适合所有 TEM 型号
外观和规格可能会因改进而发生变化。
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