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vEM 研讨会 - ty8天游线路检测中心入门 - (昭岛/东京会场)

发布日期:2026/03/12

近年来,使用电子显微镜进行三维观察的称为体积EM(vEM)的技术引起了人们的关注。 JEOL 提供与 vEM 观察兼容的设备和应用程序。这次,我们将重点介绍使用 SEM 的串行切片法(Array)。

活动日期

2026 年 6 月 19 日星期五 13:00-16:30(接待时间从 12:30 开始)

地点

天游线路检测中心株式会社总公司/昭岛制造开发馆
东京都昭岛市武藏野 3-1-2 196-8558

参与费

免费

容量

10人(接待遵循先到先得的原则,请尽早申请。)

查询

天游线路检测中心有限公司
解决方案开发中心研讨会负责人
tharuta[at]jeolcojp

  • 请将[at]更改为@。

讲座/演示内容

在本次研讨会中,我们将使用嵌入树脂中的生物样本。当天的讲座/演示摘要如下。

  • ty8天游线路检测中心介绍(课程)

  • 连续切片制备(使用的设备:超薄切片机)

  • SEM数据采集(使用设备:JSM-IT800)

  • 使用重建软件重新配置(使用的软件:“Stack N Viz”)

想要参与的客户

  • 对ty8天游线路检测中心感兴趣并想从现在开始的SEM用户

时间表

时间 讲座/演示内容
13:00~13:50

讲座 1

串行切片方法简介(ty8天游线路检测中心)

ty8天游线路检测中心方法的工作流程大致可分为三个部分:连续切片样品的制备、连续切片样品的观察以及连续成像数据的3D分析。在这里,我们将解释每个工作流程。

13:50~15:20

演示 1

使用超薄切片机进行连续切片制备

我们将介绍制作连续切片的技巧和诀窍,同时向您展示使用超薄切片机实际制作连续切片的流程。

演示 2

使用 FE-SEM JSM-IT800 系列自动观察连续切片

“Array Tomography Supporter”是专门为自动观察ty8天游线路检测中心中的连续切片而开发的软件。

15:20~15:50

演示 3

使用重建软件“Stack n Viz”进行对齐和 3D 重建

System Infrontier (SIF) 软件“Stack n

15:50~16:10

设备介绍

推出新型切片机“UC Enuity”

新型超薄切片机“UC Enuity”是

16:10~16:30

问答

如何申请

请使用下面的按钮填写申请表。

  • 本次研讨会的报名遵循先到先得的原则。请尽早申请。

  • 请注意,我们可能会拒绝参赛者注册。

  • 提交表单后,您将收到一封自动回复电子邮件,确认您的申请已收到。根据您的安全设置,您可能不会收到我们发送的电子邮件。如果您在当天没有收到消息,请联系我们。

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