天游线路检测中心 vEM 研讨会 ~阵列断层扫描入门~（地点：大阪）
发布日期：2025/11/11
近年来，使用电子显微镜进行三维观察的体积EM（vEM）技术引起了人们的关注。 JEOL 提供与 vEM 观察兼容的设备和应用程序。这次，我们将通过使用实际设备的演示，从概述到样品制备、设备操作和 3D 构建来说明使用 SEM 的串行截面方法（阵列断层扫描）。
此外，本次研讨会将使用嵌入树脂的生物样本。
|
活动日期 |
2026 年 1 月 23 日星期五 13:00-16:20（接待时间从 12:30 开始） |
|---|---|
|
地点 |
JEOL 株式会社西日本解决方案中心 (WSC)大阪市淀川区西中岛 5-14-5 日产新大阪南口大楼 1 楼，邮编：532-0011 访问地图 |
|
参与费 |
免费 |
|
容量 |
10人（接待遵循先到先得的原则，请尽早申请。） |
|
查询 |
日本电子有限公司需求促进总部sales1[at]jeolcojp
|
讲座/演示内容
当天，我们将解释以下有关阵列断层扫描的内容
染色方法
串行部分准备（演示）
SEM 数据采集（演示）
Stacker说明：使用重建软件“Stack N Viz”进行重建
想要参与的客户
对阵列断层扫描感兴趣并想从现在开始的SEM用户
时间表
| 时间 | 讲座/演示内容 |
|---|---|
| 13：00～14：00 |
讲座 1 串行切片方法简介（阵列断层扫描） 阵列断层扫描方法的工作流程大致可分为三个部分：连续切片样品的制备、连续切片样品的观察以及连续成像数据的3D分析。在这里，我们将解释每个工作流程。 |
| 14：00～14：40 |
演示 1 使用超薄切片机进行连续切片制备 阵列断层扫描是一种优秀的分析方法，基本上可以用SEM完成，并且实施成本较低。 |
| 14：40～15：00 |
中断 |
| 15：00～15：30 |
演示2 使用台式 SEM JCM-7000 自动观察连续切片 “Array Tomography Supporter”是专门为自动观察阵列断层扫描中的连续切片而开发的软件。 |
| 15：30～16：00 |
讲座 2 System Infrontier提供的Array Tomography相关软件介绍 介绍System Infrontier (SIF) 制造的软件“Stack n Viz”和“Colorist”。“堆栈 n |
| 16：00～16：20 |
问答 |
如何申请
请在下面申请。
本次研讨会的报名遵循先到先得的原则。请尽早申请。
请注意，我们可能会拒绝参赛者注册。
