天游线路检测中心 减少样品变质！ ～使用冷却台的FE-SEM观察分析～
发布日期：2025/09/03
扫描电子显微镜 (SEM) 用途广泛，例如各种材料的研发和质量保证，包括半导体、生物技术、电子元件、金属、聚合物及其复合材料。另一方面，对电子束照射敏感的样品（例如需求不断增加的软材料和电池材料）的稳定观察和分析是一个问题。在本次研讨会中，我们将重点讨论作为该问题解决方案之一的样品冷却方法，并介绍配备样品冷却台的SEM系统的概述以及观察和分析等应用示例。
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
观察和分析过程中电子束照射对样品的影响
关于样品冷却台系统
利用样品冷却进行观察和分析的应用示例
想要参与的客户
从事高分子材料研发的人
正在分析电池材料的人
处理对电子束照射敏感的样品的人员
相关产品
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扬声器 |
山本康明 日本电子有限公司SI事业部 EP事业部 EP应用部 
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活动日期 |
2025 年 10 月 7 日星期二 16:00 - 17:00 |
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参与费 |
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。） |
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演示材料 |
讲座结束后填写调查问卷即可下载。 |
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讲座录音 |
稍后录制讲座过去的视频（网络研讨会列表）它将发布在页面上。发帖时电子邮件杂志和SNS，所以请注册/关注我们。 |
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问答 |
讲座结束后将有时间进行问答。如果您有任何疑问，请在注册表的预先问题部分填写，或在讲座当天使用 Zoom 上的问答功能。 |
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查询 |
日本电子有限公司需求促进总部sales1[at]jeolcojp
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如何申请
网络研讨会已经结束。讲座视频可作为存档使用。您可以通过下面的申请观看。
视频
输入客户信息后，您将被重定向到视频页面。
