天游线路检测中心 使用 MEMS 芯片进行原位 TEM 观察的最新信息
发布日期：2025/06/03
对透射电子显微镜 (TEM) 中原位观察的需求正在不断增加。这里介绍的原位观测系统可以安装在您现有的 TEM 中。除了加热和施加电压外，还可以在气体或液体中进行原位观察，从而可以构建可以实时观察催化剂颗粒运动和电镀反应过程的系统。在本次网络研讨会中，我们将讨论什么是现场观测系统。通过现场观察可以获得哪些数据？我想向您介绍
本次研讨会将在线举行。只要您可以连接到网络，您不仅可以通过计算机参与，还可以通过智能手机或平板电脑参与。我们期待您的参与。
您可以从本次网络研讨会中学到什么
利用现有TEM引入原位观察的方法
原位观察方法（加热、施加电压、气体环境、液体中）
想要参与的客户
想要用 TEM 进行原位观察的人
那些正在探索和考虑使用现有 TEM 进行增值观察的可能性的人
扬声器
福永敬一
日本电子有限公司EM 业务部EM应用部
活动日期
2025 年 7 月 4 日星期五 16:00 - 17:00
相关产品
讲座录音
稍后我会发布讲座的录音。发帖时我们公司电子显微镜邮件杂志和社交网络服务。
参与费
免费（按照先到先得的原则接受申请。请尽早申请。）
如何申请
网络研讨会已经结束。讲座视频现已发布，请在下面申请。
联系我们
日本电子有限公司需求促进总部网络研讨会秘书处sales1[at]jeolcojp
- 请将 [at] 更改为 @。
视频
输入客户信息后，您将被重定向到视频页面。
